{"id":2377,"date":"2025-02-23T15:30:28","date_gmt":"2025-02-23T07:30:28","guid":{"rendered":"https:\/\/sevenpcba.com\/?page_id=2377"},"modified":"2025-05-27T13:02:48","modified_gmt":"2025-05-27T05:02:48","slug":"ict-test","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/sevenpcba.com\/ro\/ict-test\/","title":{"rendered":"TEST TIC"},"content":{"rendered":"
\n\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t
\n\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t

Ce este testul TIC (testarea \u00een circuit) \u0219i de ce este un test TIC?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
\n\t\t\t\t\t
\n\t\t
\n\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t

TEST TIC<\/strong> este abrevierea de la In-Circuit Tester (Tester \u00een circuit). Este un instrument de testare care utilizeaz\u0103 tehnologia computerizat\u0103 pentru a testa dac\u0103 componentele \u0219i parametrii de pe placa de circuit sunt corec\u021bi \u0219i dac\u0103 asamblarea circuitului este corect\u0103 pe linia de produc\u021bie a produselor electronice produse \u00een mas\u0103. Deoarece nu simuleaz\u0103 func\u021bia \u0219i performan\u021ba circuitului de testare, se nume\u0219te \u0219i test static al pl\u0103cii de circuit.<\/p>\n

Este un instrument de testare care utilizeaz\u0103 tehnologia computerizat\u0103 pentru a testa dac\u0103 componentele \u0219i parametrii de pe placa de circuit sunt corec\u021bi \u0219i dac\u0103 asamblarea circuitului este corect\u0103 pe linia de produc\u021bie a produselor electronice produse \u00een mas\u0103. Deoarece nu simuleaz\u0103 func\u021bia \u0219i performan\u021ba circuitului de testare, se nume\u0219te \u0219i test static al pl\u0103cii de circuit.<\/p>\n

TEST TIC<\/strong> (TESTER \u00ceN CIRCUIT) m\u0103soar\u0103 toate componentele de pe placa de circuit, inclusiv rezisten\u021be, condensatoare, inductoare, diode, tranzistoare, FET-uri, SCR-uri, LED-uri \u0219i circuite integrate etc., pentru a detecta diverse defecte ale produselor de pe placa de circuit, cum ar fi: scurtcircuit, circuit deschis, piese lips\u0103, piese gre\u0219ite, piese defecte sau asamblare defectuoas\u0103 etc. \u0219i indic\u0103 clar loca\u021bia defectelor pentru a ajuta utilizatorii s\u0103 asigure calitatea produsului \u0219i s\u0103 \u00eembun\u0103t\u0103\u021beasc\u0103 eficien\u021ba inspec\u021biei \u0219i repar\u0103rii produselor defecte. De asemenea, este primul care utilizeaz\u0103 relee reed (REED RELAY) care pot fi comutate de sute de milioane de ori. Este testerul \u00een circuit cu cea mai mare acoperire de testare, cel mai stabil test, cea mai convenabil\u0103 utilizare \u0219i cele mai complete date.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t

\n\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\"\"\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\tOfert\u0103 gratuit\u0103 acum<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/a>\n\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
\n\t\t\t\t\t
\n\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t

Cum se testeaz\u0103 TIC \u0219i cum func\u021bioneaz\u0103?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
\n\t\t\t\t\t
\n\t\t
\n\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\"\"\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t

\n\t\t\t\t\t\tCum func\u021bioneaz\u0103 testarea TIC?\t\t\t\t\t<\/h2>\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\tDetecteaz\u0103 circuitul deschis, scurtcircuitul \u0219i starea de sudur\u0103 a pieselor\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\tOfert\u0103 gratuit\u0103 acum\t\t\t\t\t<\/a>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
\n\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t

  1. Tehnologie de izolare (protec\u021bie)<\/strong>\u00a0Elimina\u021bi interferen\u021bele circuitelor, m\u0103sura\u021bi cu precizie parametrii componentelor \u0219i \u00eembun\u0103t\u0103\u021bi\u021bi precizia detect\u0103rii defectelor PCBA.<\/p><\/li>

  2. Metod\u0103 de m\u0103surare a curentului\/tensiunii constante<\/strong>\u00a0Determina\u021bi rapid valoarea rezisten\u021bei, potrivit\u0103 pentru testarea online a rezisten\u021bei mari, pentru a asigura calitatea sud\u0103rii.<\/p><\/li>

  3. Test de frecven\u021b\u0103 constant\u0103 a condensatorului de curent alternativ<\/strong>\u00a0M\u0103sura\u021bi impedan\u021ba condensatorului prin sursa de tensiune alternativ\u0103 \u0219i identifica\u021bi cu precizie capacitatea anormal\u0103 a condensatorului (cum ar fi scurgerile, lipirea la rece).<\/p><\/li>

  4. Metoda de analiz\u0103 a impedan\u021bei inductorului<\/strong>\u00a0Folose\u0219te semnalul de curent alternativ pentru a m\u0103sura reactan\u021ba inductorului, acoperind diagnosticarea defec\u021biunilor inductorului de \u00eenalt\u0103\/joas\u0103 frecven\u021b\u0103.<\/p><\/li>

  5. Testul de c\u0103dere de tensiune direct\u0103 a diodei<\/strong>\u00a0Detecteaz\u0103 tensiunea direct\u0103 a diodelor de siliciu\/germaniu (0,3V\/0,7V) pentru a verifica dac\u0103 exist\u0103 o defec\u021biune invers\u0103 sau un circuit deschis.<\/p><\/li>

  6. Test de logic\u0103 vectorial\u0103<\/strong>\u00a0Compara\u021bi semnalele de intrare \u0219i ie\u0219ire pentru a verifica func\u021biile circuitelor integrate digitale (cum ar fi por\u021bile logice, microprocesoarele).<\/p><\/li>

  7. Test de scanare rapid\u0103 non-vectorial\u0103<\/strong>\u00a0Nu sunt necesare proceduri complexe, detecteaz\u0103 rapid \u00eentreruperile \u0219i scurtcircuitele la pinii componentelor \u0219i se adapteaz\u0103 la circuitele SMT de \u00eenalt\u0103 densitate.<\/p><\/li>

  8. Tehnologie de scanare a limitelor (JTAG)<\/strong>\u00a0Detecteaz\u0103 interconectarea intern\u0103 a cipului prin lan\u021bul de testare serial \u0219i sus\u021bine localizarea defectelor dispozitivelor ambalate, cum ar fi BGA.<\/p><\/li><\/ol>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t

    \n\t\t\t\t\t
    \n\t\t\t\t
    \n\t\t\t\t\t

    Care este func\u021bia testului TIC?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
    \n\t\t\t\t\t
    \n\t\t
    \n\t\t\t\t
    \n\t\t\t\t\t\t\t\t\t

    Urm\u0103toarele sunt pentru TEST TIC<\/strong> 10 func\u021bii principale<\/strong><\/p>\n

    1.\u00a0<\/strong>Detectarea circuitelor deschise \u0219i scurtcircuitelor<\/h3>\n

    Scenarii de aplica\u021bii<\/strong>:<\/p>\n

      \n
    • Electronic\u0103 auto<\/strong>Detectarea defectelor de sudur\u0103 pe pl\u0103cile de circuit ECU (unitate de control electronic\u0103) pentru a evita pierderea controlului vehiculului din cauza scurtcircuitelor.<\/li>\n
    • Echipamente de comunica\u021bii<\/strong>Depanarea erorilor de scurtcircuit la pl\u0103cile de baz\u0103 ale routerelor \u0219i switch-urilor pentru a asigura stabilitatea transmisiei semnalului.<\/li>\n<\/ul>\n

      2.\u00a0<\/strong>M\u0103surarea parametrilor componentelor<\/h3>\n

      Scenarii de aplica\u021bii<\/strong>:<\/p>\n

        \n
      • Echipamente medicale<\/strong>Calibrarea parametrilor de rezisten\u021b\u0103 \u0219i capacitate ai instrumentelor de precizie, cum ar fi monitoare, ventilatoare \u0219i a\u0219a mai departe, pentru a asigura acurate\u021bea echipamentelor.<\/li>\n
      • Control industrial<\/strong>Verificarea performan\u021bei inductoarelor \u0219i releelor \u00een PLC (controler logic programabil) pentru a asigura func\u021bionarea stabil\u0103 a liniilor de produc\u021bie.<\/li>\n
      • Aerospa\u021bial\u0103<\/strong>Inspec\u021bie complet\u0103 a parametrilor componentelor pl\u0103cilor de circuit de \u00eenalt\u0103 fiabilitate pentru a \u00eendeplini cerin\u021bele de performan\u021b\u0103 \u00een medii extreme.<\/li>\n<\/ul>\n

        3.\u00a0<\/strong>Testarea diodelor\/tranzistoarelor<\/h3>\n

        Scenarii de aplica\u021bii<\/strong>:<\/p>\n

          \n
        • Modul de alimentare<\/strong>Testarea performan\u021bei diodei redresoare \u0219i a tubului de comutare pentru a evita supra\u00eenc\u0103lzirea sau defectarea aliment\u0103rii cu energie electric\u0103.<\/li>\n
        • Electronic\u0103 de larg consum<\/strong>Testarea invers\u0103 a diodelor din \u00eenc\u0103rc\u0103toarele de telefoane mobile \u0219i din circuitele de ac\u021bionare LED pentru a \u00eembun\u0103t\u0103\u021bi durata de via\u021b\u0103 a produsului.<\/li>\n
        • Echipamente industriale<\/strong>Verificarea caracteristicilor de amplificare a tranzistoarelor pentru pl\u0103cile de invertor \u0219i driver ale motorului pentru a asigura o putere de ie\u0219ire ridicat\u0103.<\/li>\n<\/ul>\n

          4.\u00a0<\/strong>Tehnologie de izolare (protec\u021bie)<\/h3>\n

          Scenarii de aplica\u021bii<\/strong>:<\/p>\n

            \n
          • Instrumenta\u021bie de \u00eenalt\u0103 precizie<\/strong>cum ar fi m\u0103surarea precis\u0103 a rezisten\u021bei \u0219i capacit\u0103\u021bii mici \u00een circuitele senzorilor, elimin\u00e2nd interferen\u021bele parazitare ale buclei.<\/li>\n
          • Aerospa\u021bial\u0103<\/strong>Testarea izola\u021biei circuitelor de control de precizie pentru a asigura parametrii exac\u021bi ai componentelor cheie din circuitele complexe.<\/li>\n
          • Echipamente medicale<\/strong>Testarea circuitelor de \u00eenalt\u0103 sensibilitate ale echipamentelor de electrocardiogram\u0103 (ECG) pentru a reduce erorile de m\u0103surare.<\/li>\n<\/ul>\n

            5.\u00a0<\/strong>Localizarea automat\u0103 a defec\u021biunilor<\/h3>\n

            Scenarii de aplica\u021bii<\/strong>:<\/p>\n

              \n
            • Electronic\u0103 auto<\/strong>Localiza\u021bi rapid componentele defecte ale modulelor de naviga\u021bie \u0219i de re\u021bea din vehicul pentru a scurta timpul de repara\u021bie.<\/li>\n
            • Sta\u021bii de baz\u0103 de comunica\u021bii<\/strong>Pozi\u021bionarea precis\u0103 a punctelor de eroare de pe placa de baz\u0103 a sta\u021biei de baz\u0103 pentru a asigura continuitatea re\u021belei de comunica\u021bii.<\/li>\n
            • Automatizare industrial\u0103<\/strong>Repararea rapid\u0103 a pl\u0103cilor de control defecte ale robo\u021bilor, reduc\u00e2nd pierderile cauzate de nefunc\u021bionarea liniei de produc\u021bie.<\/li>\n<\/ul>\n

              6.\u00a0<\/strong>Testare eficient\u0103 \u00een loturi<\/h3>\n

              Scenarii de aplica\u021bii<\/strong>:<\/p>\n

                \n
              • Electronic\u0103 de larg consum<\/strong>testarea rapid\u0103 a pl\u0103cilor de baz\u0103 pentru telefoane mobile \u0219i computere pe linia de produc\u021bie, satisf\u0103c\u00e2nd cererea pentru un randament SMT ridicat (de exemplu, mii de buc\u0103\u021bi pe or\u0103).<\/li>\n
              • Dispozitive IoT<\/strong>Controlul calit\u0103\u021bii \u00een loturi pentru senzori de uz casnic inteligent \u0219i dispozitive purtabile, pentru a \u00eembun\u0103t\u0103\u021bi eficien\u021ba livr\u0103rii pe pia\u021b\u0103.<\/li>\n
              • Control industrial<\/strong>Testarea \u00een serie a pl\u0103cilor de baz\u0103 PLC \u0219i de control industrial pentru a asigura consecven\u021ba echipamentelor industriale.<\/li>\n<\/ul>\n

                7.\u00a0<\/strong>Analiza special\u0103 a condensatoarelor \u0219i inductoarelor<\/h3>\n

                Scenarii de aplica\u021bii<\/strong>:<\/p>\n

                  \n
                • Echipamente de comunica\u021bii<\/strong>Testarea impedan\u021bei condensatoarelor de filtrare \u0219i a inductoarelor de \u00eenalt\u0103 frecven\u021b\u0103 pentru a asigura calitatea semnalului sta\u021biilor de baz\u0103 5G.<\/li>\n
                • Electronic\u0103 de larg consum<\/strong>Verificarea performan\u021bei condensatoarelor de acordare a antenei de telefonie mobil\u0103 \u0219i a inductoarelor de filtrare a sursei de alimentare pentru a optimiza semnalul \u0219i raza de ac\u021biune.<\/li>\n
                • Electronic\u0103 auto<\/strong>Testarea stabilit\u0103\u021bii inductan\u021bei pentru sistemele audio auto \u0219i ADAS pentru a evita interferen\u021bele electromagnetice.<\/li>\n<\/ul>\n

                  8.\u00a0<\/strong>Testarea circuitelor integrate<\/h3>\n

                  Scenarii de aplica\u021bii<\/strong>:<\/p>\n

                    \n
                  • Electronic\u0103 auto<\/strong>Testarea prin scanare limit\u0103 a cipurilor \u00eencapsulate \u00een BGA (de exemplu, MCU-uri, senzori) pentru a asigura fiabilitatea sistemelor de conducere autonom\u0103.<\/li>\n
                  • Aerospa\u021bial\u0103<\/strong>Testarea interconect\u0103rii interne a circuitelor integrate complexe (de exemplu, FPGA, DSP) pentru a \u00eendeplini cerin\u021bele de fiabilitate ridicat\u0103.<\/li>\n<\/ul>\n

                    9.\u00a0<\/strong>Statistic\u0103 \u0219i trasabilitate<\/h3>\n

                    Scenarii de aplica\u021bii<\/strong>:<\/p>\n

                      \n
                    • Dispozitive medicale<\/strong>Date statistice privind defectele instrumentelor medicale pentru optimizarea proceselor de produc\u021bie \u00een conformitate cu FDA\/CE.<\/li>\n
                    • Produc\u021bie industrial\u0103<\/strong>\u00cembun\u0103t\u0103\u021bi\u021bi parametrii \u0219i randamentul montatorului SMT prin TEST TIC<\/strong> rapoarte.<\/li>\n<\/ul>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
                      \n\t\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\t

                      Care sunt avantajele \u0219i dezavantajele testului TIC?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
                      \n\t\t\t\t\t
                      \n\t\t
                      \n\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\t\t\t\t\t

                      Urm\u0103torul este un tabel comparativ al celor trei metode principale de testare\u00a0TEST TIC, FCT \u0219i AOI<\/strong>\u00a0bazate pe informa\u021biile din baza de cuno\u0219tin\u021be, eviden\u021biind avantajele, dezavantajele \u0219i scenariile de aplicare<\/p>\n

                      TEST TIC (Test \u00een circuit)<\/strong><\/h3>\n\n\n\n\n\n\n\n\n
                      Avantaje<\/strong><\/th>\nDezavantaje<\/strong><\/th>\nScenarii tipice de aplicare<\/strong><\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n
                      \u2705\u00a0Vitez\u0103 mare de testare<\/strong>\u00a0(c\u00e2teva secunde\/plac\u0103)<\/td>\n\u274c\u00a0Cost ridicat al echipamentelor<\/strong>\u00a0(sute de mii de dolari \u00een instala\u021bii fixe)<\/td>\nElectronic\u0103 auto, echipamente de comunica\u021bii, produc\u021bie \u00een mas\u0103 de electronice de larg consum<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Precizie ridicat\u0103<\/strong>\u00a0(testarea direct\u0103 a propriet\u0103\u021bilor electrice)<\/td>\n\u274c\u00a0Punctele de testare trebuie proiectate<\/strong>\u00a0(vitez\u0103 de cablare mai mic\u0103)<\/td>\nPanouri de control industriale, circuite aerospa\u021biale de \u00eenalt\u0103 fiabilitate<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Suport pentru componente complexe<\/strong>\u00a0(de exemplu, BGA, FPGA)<\/td>\n\u274c\u00a0Cerin\u021be ridicate de \u00eentre\u021binere<\/strong>\u00a0(sondele trebuie \u00eenlocuite dac\u0103 se uzeaz\u0103)<\/td>\nLinii PCBA care trebuie s\u0103 localizeze rapid defec\u021biunile<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Nu este nevoie de testare la pornire<\/strong>\u00a0(reduce riscul de scurtcircuit)<\/td>\n\u274c\u00a0Nu se poate testa func\u021bionalitatea software-ului<\/strong><\/td>\nPl\u0103ci de circuite cu componente de \u00eenalt\u0103 densitate<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n

                      FCT (Test Func\u021bional. Test Func\u021bional)<\/strong><\/h3>\n\n\n\n\n\n\n\n\n
                      Avantaje<\/strong><\/th>\nDezavantaje<\/strong><\/th>\nScenarii tipice de aplicare<\/strong><\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n
                      \u2705\u00a0Verifica\u021bi complet func\u021bionalitatea<\/strong>\u00a0(Colaborare software \u0219i hardware)<\/td>\n\u274c\u00a0Medii de testare complicate<\/strong>\u00a0(Necesitatea simul\u0103rii condi\u021biilor de munc\u0103 din lumea real\u0103)<\/td>\nTestarea telefoanelor inteligente, a dispozitivelor medicale \u0219i a aparatelor finite<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Testare dinamic\u0103<\/strong>\u00a0(condi\u021bii reale de munc\u0103)<\/td>\n\u274c\u00a0Consumator de timp \u00eendelungat<\/strong>\u00a0(nivel\/tabl\u0103 de minute)<\/td>\nSta\u021bii de baz\u0103 de comunica\u021bii, testare a integr\u0103rii sistemului ECU auto<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Acoperirea zonelor oarbe TIC<\/strong>\u00a0(de exemplu, performan\u021ba componentelor, defectele software)<\/td>\n\u274c\u00a0Investi\u021bii mici \u00een dispozitive, dar costuri ridicate pentru dezvoltarea programelor<\/strong><\/td>\nDispozitive complexe care necesit\u0103 validarea interac\u021biunilor la nivel de sistem<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Poate fi adaptat la produc\u021bia de volum mic<\/strong><\/td>\n\u274c\u00a0Imposibil de localizat puncte specifice de defec\u021biune<\/strong><\/td>\nFaza de dezvoltare \u0219i validare a noilor produse<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n

                      AOI (Inspec\u021bie optic\u0103 automat\u0103)<\/strong><\/h3>\n\n\n\n\n\n\n\n\n
                      Avantaje<\/strong><\/th>\nDezavantaje<\/strong><\/th>\nScenarii tipice de aplicare<\/strong><\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n
                      \u2705\u00a0Inspec\u021bie f\u0103r\u0103 contact<\/strong>\u00a0(f\u0103r\u0103 uzur\u0103 mecanic\u0103)<\/td>\n\u274c\u00a0Imposibil de detectat propriet\u0103\u021bile electrice<\/strong><\/td>\nInspec\u021bia aspectului \u00eembin\u0103rilor de lipire SMT, monitorizarea procesului PCB<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Inspec\u021bie de \u00eenalt\u0103 precizie a aspectului<\/strong>\u00a0(de exemplu, monumental, punte de lipire)<\/td>\n\u274c\u00a0Depinde de configura\u021biile algoritmice \u0219i ale sursei de lumin\u0103<\/strong><\/td>\nElectronic\u0103 de larg consum, verificarea defectelor de aspect ale electronicii auto<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705 \u2705\u00a0Costuri reduse de \u00eentre\u021binere<\/strong>\u00a0(nu este necesar\u0103 \u00eenlocuirea sondei)<\/td>\n\u274c\u00a0Imposibil de detectat defec\u021biuni interne<\/strong><\/td>\nInterceptarea defectelor \u00een timp real pe linia de produc\u021bie de mare vitez\u0103<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Implementare rapid\u0103<\/strong>\u00a0(se adapteaz\u0103 la comutarea multi-model)<\/td>\n\u274c\u00a0Influen\u021bat de finisajul suprafe\u021bei<\/strong>\u00a0(de exemplu, mascarea componentelor)<\/td>\nDecalaj component\u0103 SMT, detectare slab\u0103 a imprim\u0103rii pastei de lipit<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n

                      Rezumat comparativ \u0219i sugestii complementare<\/strong><\/h3>\n\n\n\n\n\n\n\n\n
                      Dimensiuni de compara\u021bie<\/strong><\/th>\nTEST TIC\u00a0<\/strong><\/th>\nFCT<\/strong><\/th>\nAspect de interes<\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n
                      Tipuri de teste<\/strong><\/td>\nPerforman\u021b\u0103 electric\u0103<\/td>\nFunc\u021bionalitate<\/td>\nAspect<\/td>\n<\/tr>\n
                      Vitez\u0103<\/strong><\/td>\nRapid (secunde)<\/td>\nLent (Minute)<\/td>\nRapid (\u00een timp real)<\/td>\n<\/tr>\n
                      Cost<\/strong><\/td>\nRidicat (Echipament + Corpuri de iluminat)<\/td>\nMediu (\u00een func\u021bie de mediul de testare)<\/td>\nMediu (Echipament + Algoritmi)<\/td>\n<\/tr>\n
                      Solu\u021bii complementare<\/strong><\/td>\n+AOI (Inspec\u021bie complet\u0103 optic\u0103 + electric\u0103)<\/td>\n+ICT (Localizarea Defec\u021biunilor Specifice)<\/td>\n+TIC\/FCT (Acoper\u0103 aspectele electrice \u0219i func\u021bionale)<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
                      \n\t\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\t

                      De ce s\u0103 facem teste TIC?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
                      \n\t\t\t\t\t
                      \n\t\t
                      \n\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\t\t\t\t\t

                      De ce s\u0103 ne alege\u021bi pentru TESTARE TIC? \u2014\u2014Solu\u021bii profesionale, eficiente \u0219i de \u00eencredere pentru testarea PCB-urilor<\/strong><\/h3>\n

                      \u00cen al patrulea r\u00e2nd, rezumatul avantajelor noastre principale<\/strong><\/h4>\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n
                      Dimensiuni<\/strong><\/th>\nPutem s\u0103 o facem<\/strong><\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n
                      Eficien\u0163\u0103<\/strong><\/td>\nTimp de testare pe o singur\u0103 plac\u0103 \u2264 5 secunde, suport\u0103 peste 2000 de puncte de testare\/plac\u0103<\/td>\n<\/tr>\n
                      Precizie<\/strong><\/td>\nRat\u0103 fals pozitiv\u0103 < 0,2%, compatibil\u0103 cu setarea de toleran\u021b\u0103 \u00b120%<\/td>\n<\/tr>\n
                      Cost<\/strong><\/td>\nEconomii la costurile cu accesoriile pentru 30%, reducerea prelucr\u0103rilor manuale pentru 92% (proiect de referin\u021b\u0103 pentru echipamente medicale)<\/td>\n<\/tr>\n
                      Acoperire tehnologic\u0103<\/strong><\/td>\nTest cu sond\u0103 volant\u0103 + test cu pat de cuie + detectare 3D a \u00eembin\u0103rilor de lipire, potrivit pentru ambalaje de \u00eenalt\u0103 densitate, cum ar fi BGA\/LGA\/QFN<\/td>\n<\/tr>\n
                      Certificare industrial\u0103<\/strong><\/td>\nCertificare ISO 9001\/IEC 61215, caz de cooperare SGS\/Intertek<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
                      \n\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\"\"\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t

                      \n\t\t\t\t\t\tTEST TIC profesional, eficient \u0219i de \u00eencredere \t\t\t\t\t<\/h2>\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\t\tSolu\u021bii profesionale, eficiente \u0219i de \u00eencredere pentru testarea PCBA\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\tOfert\u0103 gratuit\u0103 acum \t\t\t\t\t<\/a>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

                      Descoperi\u021bi cum testarea \u00een circuit (ICT TEST) asigur\u0103 calitatea PCB-urilor, reduce costurile \u0219i accelereaz\u0103 produc\u021bia. Detectarea rapid\u0103 a defectelor, diagnosticarea fiabil\u0103 a defec\u021biunilor \u0219i testarea de precizie pentru produc\u021bia de volum mare.<\/p>","protected":false},"author":2,"featured_media":2527,"parent":0,"menu_order":0,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","template":"","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"class_list":["post-2377","page","type-page","status-publish","has-post-thumbnail","hentry"],"acf":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/ro\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/2377","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/ro\/wp-json\/wp\/v2\/pages"}],"about":[{"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/ro\/wp-json\/wp\/v2\/types\/page"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/ro\/wp-json\/wp\/v2\/users\/2"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/ro\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=2377"}],"version-history":[{"count":0,"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/ro\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/2377\/revisions"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/ro\/wp-json\/wp\/v2\/media\/2527"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/ro\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=2377"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}