{"id":2377,"date":"2025-02-23T15:30:28","date_gmt":"2025-02-23T07:30:28","guid":{"rendered":"https:\/\/sevenpcba.com\/?page_id=2377"},"modified":"2025-05-27T13:02:48","modified_gmt":"2025-05-27T05:02:48","slug":"ict-test","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/sevenpcba.com\/pt\/ict-test\/","title":{"rendered":"TESTE DE TIC"},"content":{"rendered":"
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O que \u00e9 ICT TEST (In-Circuit-Testing) e por que ICT TEST?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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TESTE DE TIC<\/strong> \u00e9 a abrevia\u00e7\u00e3o de In-Circuit Tester. \u00c9 um instrumento de teste que utiliza tecnologia computacional para testar se os componentes e par\u00e2metros na placa de circuito est\u00e3o corretos e se a montagem do circuito est\u00e1 correta na linha de produ\u00e7\u00e3o de produtos eletr\u00f4nicos produzidos em massa. Como n\u00e3o simula a fun\u00e7\u00e3o e o desempenho do circuito de teste, tamb\u00e9m \u00e9 chamado de teste est\u00e1tico da placa de circuito.<\/p>\n

\u00c9 um instrumento de teste que utiliza tecnologia computacional para testar se os componentes e par\u00e2metros da placa de circuito est\u00e3o corretos e se a montagem do circuito est\u00e1 correta na linha de produ\u00e7\u00e3o de produtos eletr\u00f4nicos produzidos em massa. Como n\u00e3o simula a fun\u00e7\u00e3o e o desempenho do circuito de teste, tamb\u00e9m \u00e9 chamado de teste est\u00e1tico da placa de circuito.<\/p>\n

TESTE DE TIC<\/strong> (IN CIRCUIT TESTER) mede todas as pe\u00e7as da placa de circuito, incluindo resistores, capacitores, indutores, diodos, transistores, FETs, SCRs, LEDs e CIs, etc., para detectar diversos defeitos em produtos de placa de circuito, como: curto-circuito, circuito aberto, pe\u00e7as faltantes, pe\u00e7as incorretas, pe\u00e7as defeituosas ou montagem inadequada, etc., e indica claramente a localiza\u00e7\u00e3o dos defeitos para ajudar os usu\u00e1rios a garantir a qualidade do produto e melhorar a efici\u00eancia da inspe\u00e7\u00e3o e do reparo de produtos defeituosos. \u00c9 tamb\u00e9m o primeiro a utilizar rel\u00e9s reed (REED RELAY) que podem ser comutados centenas de milh\u00f5es de vezes. \u00c9 o testador in-circuit com a maior cobertura de teste, o teste mais est\u00e1vel, o uso mais conveniente e os dados mais completos.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t

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\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\tOr\u00e7amento gr\u00e1tis agora<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/a>\n\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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Como funciona o TESTE DE TIC?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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\n\t\t\t\t\t\tComo funciona o TESTE DE TIC e como ele funciona?\t\t\t\t\t<\/h2>\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\tDetectar circuito aberto, curto-circuito e condi\u00e7\u00f5es de soldagem de pe\u00e7as\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\tOr\u00e7amento gr\u00e1tis agora\t\t\t\t\t<\/a>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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  1. Tecnologia de isolamento (prote\u00e7\u00e3o)<\/strong>\u00a0Elimine a interfer\u00eancia do circuito, me\u00e7a com precis\u00e3o os par\u00e2metros dos componentes e melhore a precis\u00e3o da detec\u00e7\u00e3o de defeitos do PCBA.<\/p><\/li>

  2. M\u00e9todo de medi\u00e7\u00e3o de corrente\/tens\u00e3o constante<\/strong>\u00a0Determine rapidamente o valor da resist\u00eancia, adequado para testes on-line de grande resist\u00eancia, para garantir a qualidade da soldagem.<\/p><\/li>

  3. Teste de frequ\u00eancia constante CA do capacitor<\/strong>\u00a0Me\u00e7a a imped\u00e2ncia do capacitor atrav\u00e9s da fonte de tens\u00e3o CA e identifique com precis\u00e3o a capacit\u00e2ncia anormal do capacitor (como vazamento, solda fria).<\/p><\/li>

  4. M\u00e9todo de an\u00e1lise de imped\u00e2ncia do indutor<\/strong>\u00a0Use o sinal CA para medir a reat\u00e2ncia do indutor, abrangendo diagn\u00f3stico de falhas de indutor de alta frequ\u00eancia\/baixa frequ\u00eancia.<\/p><\/li>

  5. Teste de queda de tens\u00e3o direta do diodo<\/strong>\u00a0Detecte a tens\u00e3o direta de diodos de sil\u00edcio\/germ\u00e2nio (0,3 V\/0,7 V) para verificar se h\u00e1 ruptura reversa ou circuito aberto.<\/p><\/li>

  6. Teste de l\u00f3gica vetorial<\/strong>\u00a0Compare sinais de entrada e sa\u00edda para verificar fun\u00e7\u00f5es de CI digitais (como portas l\u00f3gicas, microprocessadores).<\/p><\/li>

  7. Teste de varredura r\u00e1pida n\u00e3o vetorial<\/strong>\u00a0N\u00e3o s\u00e3o necess\u00e1rios procedimentos complexos, detecta rapidamente pinos de componentes abertos e curtos-circuitos e adapta-se a circuitos SMT de alta densidade.<\/p><\/li>

  8. Tecnologia de varredura de limite (JTAG)<\/strong>\u00a0Detecte a interconex\u00e3o interna do chip por meio da cadeia de teste serial e ofere\u00e7a suporte \u00e0 localiza\u00e7\u00e3o de falhas de dispositivos empacotados, como BGA.<\/p><\/li><\/ol>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t

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    Qual a fun\u00e7\u00e3o do TESTE DE TIC?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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    O seguinte \u00e9 para TESTE DE TIC<\/strong> 10 fun\u00e7\u00f5es principais fun\u00e7\u00f5es<\/strong><\/p>\n

    1.\u00a0<\/strong>Detec\u00e7\u00e3o de circuito aberto e curto<\/h3>\n

    Cen\u00e1rios de Aplica\u00e7\u00e3o<\/strong>:<\/p>\n

      \n
    • Eletr\u00f4nica automotiva<\/strong>: Detec\u00e7\u00e3o de defeitos de soldagem em placas de circuito da ECU (Unidade de Controle Eletr\u00f4nico) para evitar perda de controle do ve\u00edculo devido a curtos-circuitos.<\/li>\n
    • Equipamentos de comunica\u00e7\u00e3o<\/strong>:Solu\u00e7\u00e3o de problemas de curto-circuito em placas-m\u00e3e de roteadores e switches para garantir a estabilidade da transmiss\u00e3o do sinal.<\/li>\n<\/ul>\n

      2.\u00a0<\/strong>Medi\u00e7\u00e3o de Par\u00e2metros de Componentes<\/h3>\n

      Cen\u00e1rios de Aplica\u00e7\u00e3o<\/strong>:<\/p>\n

        \n
      • Equipamentos M\u00e9dicos<\/strong>: Calibra\u00e7\u00e3o de par\u00e2metros de resist\u00eancia e capacit\u00e2ncia de instrumentos de precis\u00e3o, como monitores, ventiladores e assim por diante, para garantir a precis\u00e3o do equipamento.<\/li>\n
      • Controle industrial<\/strong>: Verifica\u00e7\u00e3o de desempenho de indutores e rel\u00e9s em CLP (Controlador L\u00f3gico Program\u00e1vel) para garantir a opera\u00e7\u00e3o est\u00e1vel das linhas de produ\u00e7\u00e3o.<\/li>\n
      • Aeroespacial<\/strong>: Inspe\u00e7\u00e3o completa dos par\u00e2metros dos componentes de placas de circuito de alta confiabilidade para atender aos requisitos de desempenho em ambientes extremos.<\/li>\n<\/ul>\n

        3.\u00a0<\/strong>Teste de diodo\/transistor<\/h3>\n

        Cen\u00e1rios de Aplica\u00e7\u00e3o<\/strong>:<\/p>\n

          \n
        • M\u00f3dulo de pot\u00eancia<\/strong>: Teste de desempenho do diodo retificador e do tubo de comuta\u00e7\u00e3o para evitar superaquecimento ou falha do fornecimento de energia.<\/li>\n
        • Eletr\u00f4nicos de consumo<\/strong>: testes de ruptura reversa de diodos em carregadores de celulares e circuitos de acionamento de LED para aumentar a vida \u00fatil do produto.<\/li>\n
        • Equipamentos industriais<\/strong>: Verifica\u00e7\u00e3o das caracter\u00edsticas de amplifica\u00e7\u00e3o do transistor para placas de inversor e driver de motor para garantir alta pot\u00eancia de sa\u00edda.<\/li>\n<\/ul>\n

          4.\u00a0<\/strong>Tecnologia de Isolamento (Guarda)<\/h3>\n

          Cen\u00e1rios de Aplica\u00e7\u00e3o<\/strong>:<\/p>\n

            \n
          • Instrumenta\u00e7\u00e3o de alta precis\u00e3o<\/strong>: como a medi\u00e7\u00e3o precisa de pequenas resist\u00eancias e capacit\u00e2ncias em circuitos de sensores, eliminando interfer\u00eancias de loop parasitas.<\/li>\n
          • Aeroespacial<\/strong>: Testes de isolamento de circuitos de controle de precis\u00e3o para garantir par\u00e2metros precisos de componentes-chave em circuitos complexos.<\/li>\n
          • Equipamentos m\u00e9dicos<\/strong>: Teste de circuito de alta sensibilidade de equipamentos de eletrocardiograma (ECG) para reduzir erros de medi\u00e7\u00e3o.<\/li>\n<\/ul>\n

            5.\u00a0<\/strong>Localiza\u00e7\u00e3o automatizada de falhas<\/h3>\n

            Cen\u00e1rios de Aplica\u00e7\u00e3o<\/strong>:<\/p>\n

              \n
            • Eletr\u00f4nica automotiva<\/strong>: Localize rapidamente componentes defeituosos de navega\u00e7\u00e3o veicular e m\u00f3dulos de rede veiculares para reduzir o tempo de reparo.<\/li>\n
            • Esta\u00e7\u00f5es base de comunica\u00e7\u00e3o<\/strong>: posicionamento preciso dos pontos de falha da placa-m\u00e3e da esta\u00e7\u00e3o base para garantir a continuidade da rede de comunica\u00e7\u00e3o.<\/li>\n
            • Automa\u00e7\u00e3o industrial<\/strong>: reparo r\u00e1pido de placas de controle de rob\u00f4s defeituosas, reduzindo perdas por tempo de inatividade na linha de produ\u00e7\u00e3o.<\/li>\n<\/ul>\n

              6.\u00a0<\/strong>Teste de lote eficiente<\/h3>\n

              Cen\u00e1rios de Aplica\u00e7\u00e3o<\/strong>:<\/p>\n

                \n
              • Eletr\u00f4nicos de consumo<\/strong>: testes r\u00e1pidos de placas-m\u00e3e de celulares e computadores na linha de produ\u00e7\u00e3o, atendendo \u00e0 demanda por alto rendimento SMT (por exemplo, milhares de pe\u00e7as por hora).<\/li>\n
              • Dispositivos IoT<\/strong>: controle de qualidade em lote para sensores dom\u00e9sticos inteligentes e dispositivos vest\u00edveis para melhorar a efici\u00eancia de entrega ao mercado.<\/li>\n
              • Controle industrial<\/strong>: testes em lote de placas-m\u00e3e de PLC e controle industrial para garantir a consist\u00eancia de equipamentos industriais.<\/li>\n<\/ul>\n

                7.\u00a0<\/strong>An\u00e1lise Especial de Capacitores e Indutores<\/h3>\n

                Cen\u00e1rios de Aplica\u00e7\u00e3o<\/strong>:<\/p>\n

                  \n
                • Equipamentos de comunica\u00e7\u00e3o<\/strong>: testes de imped\u00e2ncia de capacitores de filtro e indutores de alta frequ\u00eancia para garantir a qualidade do sinal das esta\u00e7\u00f5es base 5G.<\/li>\n
                • Eletr\u00f4nicos de consumo<\/strong>: Verifica\u00e7\u00e3o de desempenho de capacitores de sintonia de antena de celular e indutores de filtragem de fonte de alimenta\u00e7\u00e3o para otimizar sinal e alcance.<\/li>\n
                • Eletr\u00f4nica automotiva<\/strong>: Teste de estabilidade de indut\u00e2ncia para sistemas de \u00e1udio automotivo e ADAS para evitar interfer\u00eancia eletromagn\u00e9tica.<\/li>\n<\/ul>\n

                  8.\u00a0<\/strong>Teste de circuito integrado<\/h3>\n

                  Cen\u00e1rios de Aplica\u00e7\u00e3o<\/strong>:<\/p>\n

                    \n
                  • Eletr\u00f4nica automotiva<\/strong>: testes de varredura de limites de chips encapsulados em BGA (por exemplo, MCUs, sensores) para garantir a confiabilidade de sistemas de dire\u00e7\u00e3o aut\u00f4noma.<\/li>\n
                  • Aeroespacial<\/strong>: Testes de interconex\u00e3o interna de CIs complexos (por exemplo, FPGA, DSP) para atender a altos requisitos de confiabilidade.<\/li>\n<\/ul>\n

                    9.\u00a0<\/strong>Estat\u00edstica e Rastreabilidade<\/h3>\n

                    Cen\u00e1rios de Aplica\u00e7\u00e3o<\/strong>:<\/p>\n

                      \n
                    • Dispositivos m\u00e9dicos<\/strong>: Dados estat\u00edsticos sobre defeitos em instrumentos m\u00e9dicos para otimizar os processos de produ\u00e7\u00e3o para conformidade com FDA\/CE.<\/li>\n
                    • Manufatura Industrial<\/strong>: Melhorar os par\u00e2metros do montador SMT e a taxa de rendimento por meio de TESTE DE TIC<\/strong> relat\u00f3rios.<\/li>\n<\/ul>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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                      \n\t\t\t\t\t

                      Quais s\u00e3o as vantagens e desvantagens do TESTE DE TIC?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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                      \n\t\t\t\t\t\t\t\t\t

                      A seguir est\u00e1 uma tabela comparativa dos tr\u00eas principais m\u00e9todos de teste\u00a0TESTE DE TIC, FCT e AOI<\/strong>\u00a0com base em informa\u00e7\u00f5es da base de conhecimento, destacando as vantagens, desvantagens e cen\u00e1rios de aplica\u00e7\u00e3o<\/p>\n

                      TESTE DE TIC (Teste em circuito)<\/strong><\/h3>\n\n\n\n\n\n\n\n\n
                      Vantagens<\/strong><\/th>\nDesvantagens<\/strong><\/th>\nCen\u00e1rios t\u00edpicos de aplica\u00e7\u00e3o<\/strong><\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n
                      \u2705\u00a0Velocidade de teste r\u00e1pida<\/strong>\u00a0(alguns segundos\/placa)<\/td>\n\u274c\u00a0Alto custo do equipamento<\/strong>\u00a0(centenas de milhares de d\u00f3lares em acess\u00f3rios)<\/td>\nEletr\u00f4nica automotiva, equipamentos de comunica\u00e7\u00e3o, produ\u00e7\u00e3o em massa de eletr\u00f4nicos de consumo<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Alta precis\u00e3o<\/strong>\u00a0(teste direto de propriedades el\u00e9tricas)<\/td>\n\u274c\u00a0Os pontos de teste precisam ser projetados<\/strong>\u00a0(menor taxa de fia\u00e7\u00e3o)<\/td>\nPlacas de controle industriais, circuitos aeroespaciais de alta confiabilidade<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Suporte para componentes complexos<\/strong>\u00a0(por exemplo, BGA, FPGA)<\/td>\n\u274c\u00a0Altos requisitos de manuten\u00e7\u00e3o<\/strong>\u00a0(as sondas precisam ser substitu\u00eddas se estiverem desgastadas)<\/td>\nLinhas PCBA que precisam localizar falhas rapidamente<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0N\u00e3o h\u00e1 necessidade de testes de inicializa\u00e7\u00e3o<\/strong>\u00a0(reduz o risco de curto-circuito)<\/td>\n\u274c\u00a0N\u00e3o \u00e9 poss\u00edvel testar a funcionalidade do software<\/strong><\/td>\nPlacas de circuito de componentes de alta densidade<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n

                      FCT (Teste Funcional. Teste Funcional)<\/strong><\/h3>\n\n\n\n\n\n\n\n\n
                      Vantagens<\/strong><\/th>\nDesvantagens<\/strong><\/th>\nCen\u00e1rios t\u00edpicos de aplica\u00e7\u00e3o<\/strong><\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n
                      \u2705\u00a0Verifique a funcionalidade de forma abrangente<\/strong>\u00a0(Colabora\u00e7\u00e3o de Software e Hardware)<\/td>\n\u274c\u00a0Ambientes de teste complicados<\/strong>\u00a0(\u00c9 necess\u00e1rio simular condi\u00e7\u00f5es de trabalho do mundo real)<\/td>\nTestes de smartphones, dispositivos m\u00e9dicos e aparelhos acabados<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Teste din\u00e2mico<\/strong>\u00a0(condi\u00e7\u00f5es reais de trabalho)<\/td>\n\u274c\u00a0Demorado<\/strong>\u00a0(n\u00edvel\/tabuleiro de minutos)<\/td>\nEsta\u00e7\u00f5es base de comunica\u00e7\u00e3o, testes de integra\u00e7\u00e3o de sistemas ECU automotivos<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Cobertura de zonas cegas de TIC<\/strong>\u00a0(por exemplo, desempenho de componentes, defeitos de software)<\/td>\n\u274c\u00a0Baixo investimento em dispositivos, mas alto custo de desenvolvimento de programas<\/strong><\/td>\nDispositivos complexos que precisam validar intera\u00e7\u00f5es em n\u00edvel de sistema<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Pode ser adaptado para produ\u00e7\u00e3o em pequeno volume<\/strong><\/td>\n\u274c\u00a0N\u00e3o \u00e9 poss\u00edvel localizar pontos de falha espec\u00edficos<\/strong><\/td>\nFase de desenvolvimento e valida\u00e7\u00e3o de novos produtos<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n

                      AOI (Inspe\u00e7\u00e3o \u00d3ptica Automatizada)<\/strong><\/h3>\n\n\n\n\n\n\n\n\n
                      Vantagens<\/strong><\/th>\nDesvantagens<\/strong><\/th>\nCen\u00e1rios t\u00edpicos de aplica\u00e7\u00e3o<\/strong><\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n
                      \u2705\u00a0Inspe\u00e7\u00e3o sem contato<\/strong>\u00a0(sem desgaste mec\u00e2nico)<\/td>\n\u274c\u00a0Incapaz de detectar propriedades el\u00e9tricas<\/strong><\/td>\nInspe\u00e7\u00e3o da apar\u00eancia da junta de solda da linha SMT, monitoramento do processo de PCB<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Inspe\u00e7\u00e3o de apar\u00eancia de alta precis\u00e3o<\/strong>\u00a0(por exemplo, monumental, ponte de solda)<\/td>\n\u274c\u00a0Depende das configura\u00e7\u00f5es algor\u00edtmicas e da fonte de luz<\/strong><\/td>\nTriagem de defeitos de apar\u00eancia em eletr\u00f4nicos de consumo e eletr\u00f4nicos automotivos<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705 \u2705\u00a0Manuten\u00e7\u00e3o de baixo custo<\/strong>\u00a0(n\u00e3o h\u00e1 necessidade de substitui\u00e7\u00e3o da sonda)<\/td>\n\u274c\u00a0N\u00e3o \u00e9 poss\u00edvel detectar falhas internas<\/strong><\/td>\nIntercepta\u00e7\u00e3o de defeitos em tempo real na linha de produ\u00e7\u00e3o de alta velocidade<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Implanta\u00e7\u00e3o r\u00e1pida<\/strong>\u00a0(adapta-se \u00e0 comuta\u00e7\u00e3o multimodelo)<\/td>\n\u274c\u00a0Influenciado pelo acabamento da superf\u00edcie<\/strong>\u00a0(por exemplo, mascaramento de componentes)<\/td>\nDeslocamento de componente SMT, detec\u00e7\u00e3o de impress\u00e3o de pasta de solda ruim<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n

                      Resumo da compara\u00e7\u00e3o e sugest\u00f5es complementares<\/strong><\/h3>\n\n\n\n\n\n\n\n\n
                      Dimens\u00f5es de compara\u00e7\u00e3o<\/strong><\/th>\nTESTE DE TIC\u00a0<\/strong><\/th>\nFCT<\/strong><\/th>\nAOI<\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n
                      Tipos de Testes<\/strong><\/td>\nDesempenho el\u00e9trico<\/td>\nFuncionalidade<\/td>\nApar\u00eancia<\/td>\n<\/tr>\n
                      Velocidade<\/strong><\/td>\nR\u00e1pido (segundos)<\/td>\nLento (Minutos)<\/td>\nR\u00e1pido (tempo real)<\/td>\n<\/tr>\n
                      Custo<\/strong><\/td>\nAlto (Equipamento + Fixa\u00e7\u00e3o)<\/td>\nM\u00e9dio (dependendo do ambiente de teste)<\/td>\nM\u00e9dio (Equipamentos + Algoritmos)<\/td>\n<\/tr>\n
                      Solu\u00e7\u00f5es Complementares<\/strong><\/td>\n+AOI (Inspe\u00e7\u00e3o \u00d3ptica + El\u00e9trica Completa)<\/td>\n+ICT (Localizar falhas espec\u00edficas)<\/td>\n+ICT\/FCT (Abrangendo El\u00e9trica e Funcional)<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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                      \n\t\t\t\t\t

                      Por que fazer o teste de TIC?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
                      \n\t\t\t\t\t
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                      \n\t\t\t\t\t\t\t\t\t

                      Por que nos escolher para o TESTE DE TIC? \u2014\u2014Solu\u00e7\u00f5es de teste de PCB profissionais, eficientes e confi\u00e1veis<\/strong><\/h3>\n

                      Quarto, resumo das nossas principais vantagens<\/strong><\/h4>\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n
                      Dimens\u00f5es<\/strong><\/th>\nN\u00f3s podemos fazer isso<\/strong><\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n
                      Efici\u00eancia<\/strong><\/td>\nTempo de teste de placa \u00fanica \u2264 5 segundos, suporta mais de 2.000 pontos de teste\/placa<\/td>\n<\/tr>\n
                      Precis\u00e3o<\/strong><\/td>\nTaxa de falsos positivos < 0,2%, compat\u00edvel com configura\u00e7\u00e3o de toler\u00e2ncia de \u00b120%<\/td>\n<\/tr>\n
                      Custo<\/strong><\/td>\nEconomia de custos de instala\u00e7\u00e3o de 30%, redu\u00e7\u00e3o de retrabalho manual de 92% (projeto de equipamento m\u00e9dico de refer\u00eancia)<\/td>\n<\/tr>\n
                      Cobertura de tecnologia<\/strong><\/td>\nTeste de sonda voadora + teste de leito de pregos + detec\u00e7\u00e3o de junta de solda 3D, adequado para embalagens de alta densidade, como BGA\/LGA\/QFN<\/td>\n<\/tr>\n
                      Certifica\u00e7\u00e3o da ind\u00fastria<\/strong><\/td>\nCertifica\u00e7\u00e3o ISO 9001\/IEC 61215, caso de coopera\u00e7\u00e3o SGS\/Intertek<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
                      \n\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\"\"\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t

                      \n\t\t\t\t\t\tTESTE DE TIC profissional, eficiente e confi\u00e1vel \t\t\t\t\t<\/h2>\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\t\tSolu\u00e7\u00f5es de teste de PCBA profissionais, eficientes e confi\u00e1veis\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\tOr\u00e7amento gr\u00e1tis agora \t\t\t\t\t<\/a>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

                      Descubra como o teste em circuito (ICT TEST) garante a qualidade do PCB, reduz custos e acelera a produ\u00e7\u00e3o. Detec\u00e7\u00e3o r\u00e1pida de defeitos, diagn\u00f3stico confi\u00e1vel de falhas e testes de precis\u00e3o para fabrica\u00e7\u00e3o em alto volume.<\/p>","protected":false},"author":2,"featured_media":2527,"parent":0,"menu_order":0,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","template":"","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"class_list":["post-2377","page","type-page","status-publish","has-post-thumbnail","hentry"],"acf":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/2377","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/pages"}],"about":[{"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/types\/page"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/users\/2"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=2377"}],"version-history":[{"count":0,"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/2377\/revisions"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/media\/2527"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=2377"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}