{"id":2377,"date":"2025-02-23T15:30:28","date_gmt":"2025-02-23T07:30:28","guid":{"rendered":"https:\/\/sevenpcba.com\/?page_id=2377"},"modified":"2025-05-27T13:02:48","modified_gmt":"2025-05-27T05:02:48","slug":"ict-test","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/sevenpcba.com\/fr\/ict-test\/","title":{"rendered":"TEST TIC"},"content":{"rendered":"
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Qu'est-ce que ICT TEST (In-Circuit-Testing) et pourquoi ICT TEST ?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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TEST TIC<\/strong> est l'abr\u00e9viation de \u00ab\u00a0In-Circuit Tester\u00a0\u00bb. Il s'agit d'un instrument de test utilisant l'informatique pour v\u00e9rifier l'exactitude des composants et des param\u00e8tres du circuit imprim\u00e9, ainsi que l'assemblage du circuit, sur la cha\u00eene de production de produits \u00e9lectroniques de s\u00e9rie. Comme il ne simule pas le fonctionnement et les performances du circuit de test, on l'appelle aussi \u00ab\u00a0test statique du circuit imprim\u00e9\u00a0\u00bb.<\/p>\n

Il s'agit d'un instrument de test utilisant la technologie informatique pour v\u00e9rifier l'exactitude des composants et des param\u00e8tres du circuit imprim\u00e9, ainsi que l'assemblage du circuit sur la cha\u00eene de production de produits \u00e9lectroniques de s\u00e9rie. Comme il ne simule pas le fonctionnement et les performances du circuit de test, on l'appelle \u00e9galement test statique du circuit imprim\u00e9.<\/p>\n

TEST TIC<\/strong> Le testeur en circuit mesure tous les composants du circuit imprim\u00e9, notamment les r\u00e9sistances, condensateurs, inductances, diodes, transistors, transistors \u00e0 effet de champ (FET), thyristors, LED et circuits int\u00e9gr\u00e9s, afin de d\u00e9tecter divers d\u00e9fauts sur les circuits imprim\u00e9s, tels que\u00a0: courts-circuits, circuits ouverts, pi\u00e8ces manquantes, pi\u00e8ces d\u00e9fectueuses ou assemblage d\u00e9fectueux, etc. Il indique clairement l'emplacement des d\u00e9fauts pour garantir la qualit\u00e9 du produit et am\u00e9liorer l'efficacit\u00e9 de l'inspection et de la r\u00e9paration des produits d\u00e9fectueux. Il est \u00e9galement le premier \u00e0 utiliser des relais Reed (RELAIS REED) commutables des centaines de millions de fois. C'est le testeur en circuit offrant la couverture de test la plus \u00e9lev\u00e9e, le test le plus stable, le plus pratique d'utilisation et les donn\u00e9es les plus compl\u00e8tes.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t

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\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\tDevis gratuit maintenant<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/a>\n\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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Comment fonctionne ICT TEST et comment \u00e7a marche ?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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\n\t\t\t\t\t\tComment fonctionne le TEST ICT et comment fonctionne-t-il ?\t\t\t\t\t<\/h2>\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\tD\u00e9tecter les circuits ouverts, les courts-circuits et l'\u00e9tat de soudage des pi\u00e8ces\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\tDevis gratuit maintenant\t\t\t\t\t<\/a>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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  1. Technologie d'isolement (protection)<\/strong>\u00a0\u00c9liminez les interf\u00e9rences de circuit, mesurez avec pr\u00e9cision les param\u00e8tres des composants et am\u00e9liorez la pr\u00e9cision de d\u00e9tection des d\u00e9fauts du PCBA.<\/p><\/li>

  2. M\u00e9thode de mesure du courant\/tension constant<\/strong>\u00a0D\u00e9terminez rapidement la valeur de r\u00e9sistance, adapt\u00e9e aux tests en ligne de grande r\u00e9sistance, pour garantir la qualit\u00e9 du soudage.<\/p><\/li>

  3. Test de fr\u00e9quence constante du condensateur CA<\/strong>\u00a0Mesurez l'imp\u00e9dance du condensateur via la source de tension alternative et identifiez avec pr\u00e9cision la capacit\u00e9 anormale du condensateur (comme une fuite, une soudure \u00e0 froid).<\/p><\/li>

  4. M\u00e9thode d'analyse de l'imp\u00e9dance de l'inducteur<\/strong>\u00a0Utilisez le signal CA pour mesurer la r\u00e9actance de l'inducteur, couvrant le diagnostic des d\u00e9fauts d'inducteur haute fr\u00e9quence\/basse fr\u00e9quence.<\/p><\/li>

  5. Test de chute de tension directe de la diode<\/strong>\u00a0D\u00e9tectez la tension directe des diodes silicium\/germanium (0,3 V\/0,7 V) pour v\u00e9rifier la panne inverse ou le circuit ouvert.<\/p><\/li>

  6. Test de logique vectorielle<\/strong>\u00a0Comparez les signaux d'entr\u00e9e et de sortie pour v\u00e9rifier les fonctions des circuits int\u00e9gr\u00e9s num\u00e9riques (tels que les portes logiques, les microprocesseurs).<\/p><\/li>

  7. Test de balayage rapide non vectoriel<\/strong>\u00a0Aucune proc\u00e9dure complexe n'est requise, d\u00e9tecte rapidement les broches de composants ouvertes et les courts-circuits et s'adapte aux circuits haute densit\u00e9 SMT.<\/p><\/li>

  8. Technologie Boundary Scan (JTAG)<\/strong>\u00a0D\u00e9tectez l'interconnexion interne de la puce via la cha\u00eene de test s\u00e9rie et prenez en charge la localisation des d\u00e9fauts des appareils conditionn\u00e9s tels que BGA.<\/p><\/li><\/ol>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t

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    Quelle est la fonction du TEST ICT ?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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    Ce qui suit est pour TEST TIC<\/strong> 10 fonctions principales fonctions<\/strong><\/p>\n

    1.\u00a0<\/strong>D\u00e9tection de circuit ouvert et de court-circuit<\/h3>\n

    Sc\u00e9narios d'application<\/strong>:<\/p>\n

      \n
    • \u00c9lectronique automobile<\/strong>: D\u00e9tection des d\u00e9fauts de soudure sur les cartes de circuits imprim\u00e9s ECU (Electronic Control Unit) pour \u00e9viter la perte de contr\u00f4le du v\u00e9hicule due \u00e0 des courts-circuits.<\/li>\n
    • \u00c9quipement de communication<\/strong>: D\u00e9pannage des d\u00e9fauts de court-circuit dans les cartes m\u00e8res des routeurs et des commutateurs pour garantir la stabilit\u00e9 de la transmission du signal.<\/li>\n<\/ul>\n

      2.\u00a0<\/strong>Mesure des param\u00e8tres des composants<\/h3>\n

      Sc\u00e9narios d'application<\/strong>:<\/p>\n

        \n
      • \u00c9quipement m\u00e9dical<\/strong>: \u00c9talonnage des param\u00e8tres de r\u00e9sistance et de capacit\u00e9 d'instruments de pr\u00e9cision tels que des moniteurs, des ventilateurs, etc., pour garantir la pr\u00e9cision de l'\u00e9quipement.<\/li>\n
      • Contr\u00f4le industriel<\/strong>: V\u00e9rification des performances des inducteurs et des relais dans un PLC (automate programmable) pour assurer un fonctionnement stable des lignes de production.<\/li>\n
      • A\u00e9rospatial<\/strong>:Inspection compl\u00e8te des param\u00e8tres des composants des cartes de circuits imprim\u00e9s haute fiabilit\u00e9 pour r\u00e9pondre aux exigences de performance dans des environnements extr\u00eames.<\/li>\n<\/ul>\n

        3.\u00a0<\/strong>Test de diodes\/transistors<\/h3>\n

        Sc\u00e9narios d'application<\/strong>:<\/p>\n

          \n
        • Module d'alimentation<\/strong>:Test des performances de la diode de redressement et du tube de commutation pour \u00e9viter la surchauffe ou la panne de l'alimentation \u00e9lectrique.<\/li>\n
        • \u00c9lectronique grand public<\/strong>:test de claquage inverse des diodes dans les chargeurs de t\u00e9l\u00e9phones portables et les circuits de commande de LED pour am\u00e9liorer la dur\u00e9e de vie du produit.<\/li>\n
        • \u00c9quipement industriel<\/strong>: V\u00e9rification des caract\u00e9ristiques d'amplification des transistors pour les cartes de commande d'onduleurs et de moteurs afin de garantir une puissance de sortie \u00e9lev\u00e9e.<\/li>\n<\/ul>\n

          4.\u00a0<\/strong>Technologie d'isolement (protection)<\/h3>\n

          Sc\u00e9narios d'application<\/strong>:<\/p>\n

            \n
          • Instrumentation de haute pr\u00e9cision<\/strong>: comme la mesure pr\u00e9cise de la r\u00e9sistance et de la capacit\u00e9 minuscules dans les circuits de capteurs, \u00e9liminant ainsi les interf\u00e9rences de boucle parasites.<\/li>\n
          • A\u00e9rospatial<\/strong>:Tests d'isolement des circuits de contr\u00f4le de pr\u00e9cision pour garantir des param\u00e8tres pr\u00e9cis des composants cl\u00e9s dans des circuits complexes.<\/li>\n
          • \u00c9quipement m\u00e9dical<\/strong>:Test de circuit \u00e0 haute sensibilit\u00e9 des \u00e9quipements d'\u00e9lectrocardiogramme (ECG) pour r\u00e9duire les erreurs de mesure.<\/li>\n<\/ul>\n

            5.\u00a0<\/strong>Localisation automatique des d\u00e9fauts<\/h3>\n

            Sc\u00e9narios d'application<\/strong>:<\/p>\n

              \n
            • \u00c9lectronique automobile<\/strong>: Localisez rapidement les composants d\u00e9fectueux des modules de navigation et de r\u00e9seau embarqu\u00e9s pour r\u00e9duire le temps de r\u00e9paration.<\/li>\n
            • Stations de base de communication<\/strong>: positionnement pr\u00e9cis des points de d\u00e9faut de la carte m\u00e8re de la station de base pour assurer la continuit\u00e9 du r\u00e9seau de communication.<\/li>\n
            • Automatisation industrielle<\/strong>: r\u00e9paration rapide des cartes de contr\u00f4le de robot d\u00e9fectueuses, r\u00e9duisant ainsi les pertes li\u00e9es aux temps d'arr\u00eat de la ligne de production.<\/li>\n<\/ul>\n

              6.\u00a0<\/strong>Tests par lots efficaces<\/h3>\n

              Sc\u00e9narios d'application<\/strong>:<\/p>\n

                \n
              • \u00c9lectronique grand public<\/strong>:test rapide des cartes m\u00e8res de t\u00e9l\u00e9phones portables et d'ordinateurs sur la ligne de production, r\u00e9pondant \u00e0 la demande de d\u00e9bit SMT \u00e9lev\u00e9 (par exemple, des milliers de pi\u00e8ces par heure).<\/li>\n
              • appareils IoT<\/strong>:Contr\u00f4le qualit\u00e9 par lots pour les capteurs domestiques intelligents et les appareils portables afin d'am\u00e9liorer l'efficacit\u00e9 de la distribution sur le march\u00e9.<\/li>\n
              • Contr\u00f4le industriel<\/strong>:tests par lots de cartes m\u00e8res de PLC et de contr\u00f4le industriel pour garantir la coh\u00e9rence des \u00e9quipements industriels.<\/li>\n<\/ul>\n

                7.\u00a0<\/strong>Analyse sp\u00e9ciale des condensateurs et des inducteurs<\/h3>\n

                Sc\u00e9narios d'application<\/strong>:<\/p>\n

                  \n
                • \u00c9quipement de communication<\/strong>:test d'imp\u00e9dance des condensateurs de filtrage et des inductances haute fr\u00e9quence pour garantir la qualit\u00e9 du signal des stations de base 5G.<\/li>\n
                • \u00c9lectronique grand public<\/strong>: V\u00e9rification des performances des condensateurs de r\u00e9glage d'antenne de t\u00e9l\u00e9phone portable et des inductances de filtrage d'alimentation pour optimiser le signal et la port\u00e9e.<\/li>\n
                • \u00c9lectronique automobile<\/strong>:Test de stabilit\u00e9 d'inductance pour les syst\u00e8mes audio embarqu\u00e9s et ADAS afin d'\u00e9viter les interf\u00e9rences \u00e9lectromagn\u00e9tiques.<\/li>\n<\/ul>\n

                  8.\u00a0<\/strong>Test de circuits int\u00e9gr\u00e9s<\/h3>\n

                  Sc\u00e9narios d'application<\/strong>:<\/p>\n

                    \n
                  • \u00c9lectronique automobile<\/strong>: tests de balayage des limites des puces encapsul\u00e9es dans un BGA (par exemple, MCU, capteurs) pour garantir la fiabilit\u00e9 des syst\u00e8mes de conduite autonome.<\/li>\n
                  • A\u00e9rospatial<\/strong>:Tests d'interconnexion interne de circuits int\u00e9gr\u00e9s complexes (par exemple FPGA, DSP) pour r\u00e9pondre \u00e0 des exigences de fiabilit\u00e9 \u00e9lev\u00e9es.<\/li>\n<\/ul>\n

                    9.\u00a0<\/strong>Statistiques et tra\u00e7abilit\u00e9<\/h3>\n

                    Sc\u00e9narios d'application<\/strong>:<\/p>\n

                      \n
                    • Dispositifs m\u00e9dicaux<\/strong>:Donn\u00e9es statistiques sur les d\u00e9fauts des instruments m\u00e9dicaux pour optimiser les processus de production pour la conformit\u00e9 FDA\/CE.<\/li>\n
                    • fabrication industrielle<\/strong>: Am\u00e9liorez les param\u00e8tres du monteur SMT et le taux de rendement gr\u00e2ce \u00e0 TEST TIC<\/strong> rapports.<\/li>\n<\/ul>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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                      \n\t\t\t\t\t

                      Quels sont les avantages et les inconv\u00e9nients du TEST ICT ?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
                      \n\t\t\t\t\t
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                      \n\t\t\t\t\t\t\t\t\t

                      Voici un tableau comparatif des trois principales m\u00e9thodes de test\u00a0TEST TIC, FCT et AOI<\/strong>\u00a0bas\u00e9 sur les informations de la base de connaissances, mettant en \u00e9vidence les avantages, les inconv\u00e9nients et les sc\u00e9narios d'application<\/p>\n

                      TEST TIC (Test en circuit)<\/strong><\/h3>\n\n\n\n\n\n\n\n\n
                      Avantages<\/strong><\/th>\nInconv\u00e9nients<\/strong><\/th>\nSc\u00e9narios d'application typiques<\/strong><\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n
                      \u2705\u00a0Vitesse de test rapide<\/strong>\u00a0(quelques secondes\/planche)<\/td>\n\u274c\u00a0Co\u00fbt \u00e9lev\u00e9 de l'\u00e9quipement<\/strong>\u00a0(des centaines de milliers de dollars en luminaires)<\/td>\n\u00c9lectronique automobile, \u00e9quipements de communication, production de masse d'\u00e9lectronique grand public<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Haute pr\u00e9cision<\/strong>\u00a0(test direct des propri\u00e9t\u00e9s \u00e9lectriques)<\/td>\n\u274c\u00a0Les points de test doivent \u00eatre con\u00e7us<\/strong>\u00a0(taux de c\u00e2blage inf\u00e9rieur)<\/td>\nCartes de contr\u00f4le industrielles, circuits haute fiabilit\u00e9 pour l'a\u00e9rospatiale<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Prise en charge des composants complexes<\/strong>\u00a0(par exemple BGA, FPGA)<\/td>\n\u274c\u00a0Besoins d'entretien \u00e9lev\u00e9s<\/strong>\u00a0(les sondes doivent \u00eatre remplac\u00e9es si elles s'usent)<\/td>\nLignes PCBA n\u00e9cessitant une localisation rapide des d\u00e9fauts<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Pas besoin de test de mise sous tension<\/strong>\u00a0(r\u00e9duit le risque de court-circuit)<\/td>\n\u274c\u00a0Impossible de tester les fonctionnalit\u00e9s du logiciel<\/strong><\/td>\nCartes de circuits imprim\u00e9s \u00e0 composants haute densit\u00e9<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n

                      FCT (Test fonctionnel. Test fonctionnel)<\/strong><\/h3>\n\n\n\n\n\n\n\n\n
                      Avantages<\/strong><\/th>\nInconv\u00e9nients<\/strong><\/th>\nSc\u00e9narios d'application typiques<\/strong><\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n
                      \u2705\u00a0V\u00e9rifier compl\u00e8tement la fonctionnalit\u00e9<\/strong>\u00a0(Collaboration logicielle et mat\u00e9rielle)<\/td>\n\u274c\u00a0Environnements de test compliqu\u00e9s<\/strong>\u00a0(Besoin de simuler des conditions de travail r\u00e9elles)<\/td>\nTests de smartphones, d'appareils m\u00e9dicaux et d'appareils finis<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Tests dynamiques<\/strong>\u00a0(conditions de travail r\u00e9elles)<\/td>\n\u274c\u00a0Longue et chronophage<\/strong>\u00a0(niveau minute\/tableau)<\/td>\nStations de base de communication, tests d'int\u00e9gration de syst\u00e8mes ECU automobiles<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Couverture des zones aveugles des TIC<\/strong>\u00a0(par exemple, performances des composants, d\u00e9fauts logiciels)<\/td>\n\u274c\u00a0Faible investissement dans les appareils, mais co\u00fbt \u00e9lev\u00e9 du d\u00e9veloppement des programmes<\/strong><\/td>\nDispositifs complexes n\u00e9cessitant de valider les interactions au niveau du syst\u00e8me<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Peut \u00eatre adapt\u00e9 \u00e0 une production en petit volume<\/strong><\/td>\n\u274c\u00a0Impossible de localiser des points de d\u00e9faillance sp\u00e9cifiques<\/strong><\/td>\nPhase de d\u00e9veloppement et de validation de nouveaux produits<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n

                      AOI (Inspection optique automatis\u00e9e)<\/strong><\/h3>\n\n\n\n\n\n\n\n\n
                      Avantages<\/strong><\/th>\nInconv\u00e9nients<\/strong><\/th>\nSc\u00e9narios d'application typiques<\/strong><\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n
                      \u2705\u00a0Inspection sans contact<\/strong>\u00a0(pas d'usure m\u00e9canique)<\/td>\n\u274c\u00a0Impossible de d\u00e9tecter les propri\u00e9t\u00e9s \u00e9lectriques<\/strong><\/td>\nInspection de l'apparence des joints de soudure de la ligne CMS, surveillance du processus PCB<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Inspection d'apparence de haute pr\u00e9cision<\/strong>\u00a0(par exemple, monumental, pontage de soudure)<\/td>\n\u274c\u00a0D\u00e9pend des configurations algorithmiques et de la source lumineuse<\/strong><\/td>\nContr\u00f4le des d\u00e9fauts d'apparence de l'\u00e9lectronique grand public et de l'\u00e9lectronique automobile<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705 \u2705\u00a0Entretien \u00e0 faible co\u00fbt<\/strong>\u00a0(pas besoin de remplacer la sonde)<\/td>\n\u274c\u00a0Impossible de d\u00e9tecter les d\u00e9fauts internes<\/strong><\/td>\nInterception des d\u00e9fauts en temps r\u00e9el sur une ligne de production \u00e0 grande vitesse<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0D\u00e9ploiement rapide<\/strong>\u00a0(s'adapte \u00e0 la commutation multi-mod\u00e8les)<\/td>\n\u274c\u00a0Influenc\u00e9 par la finition de surface<\/strong>\u00a0(par exemple, masquage des composants)<\/td>\nD\u00e9calage des composants CMS, mauvaise d\u00e9tection d'impression de p\u00e2te \u00e0 souder<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n

                      R\u00e9sum\u00e9 comparatif et suggestions compl\u00e9mentaires<\/strong><\/h3>\n\n\n\n\n\n\n\n\n
                      Dimensions de comparaison<\/strong><\/th>\nTEST TIC\u00a0<\/strong><\/th>\nFCT<\/strong><\/th>\nZone d'int\u00e9r\u00eat<\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n
                      Types de tests<\/strong><\/td>\nPerformances \u00e9lectriques<\/td>\nFonctionnalit\u00e9<\/td>\nApparence<\/td>\n<\/tr>\n
                      Vitesse<\/strong><\/td>\nRapide (secondes)<\/td>\nLent (minutes)<\/td>\nRapide (en temps r\u00e9el)<\/td>\n<\/tr>\n
                      Co\u00fbt<\/strong><\/td>\n\u00c9lev\u00e9 (\u00c9quipement + Luminaire)<\/td>\nMoyen (selon l'environnement de test)<\/td>\nMoyen (\u00c9quipement + Algorithmes)<\/td>\n<\/tr>\n
                      Solutions compl\u00e9mentaires<\/strong><\/td>\n+AOI (Inspection compl\u00e8te optique et \u00e9lectrique)<\/td>\n+ICT (Localiser les d\u00e9fauts sp\u00e9cifiques)<\/td>\n+ICT\/FCT (couvrant l'\u00e9lectrique et le fonctionnel)<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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                      \n\t\t\t\t\t

                      Pourquoi faire des tests TIC ?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
                      \n\t\t\t\t\t
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                      \n\t\t\t\t\t\t\t\t\t

                      Pourquoi nous choisir pour vos tests ICT\u00a0? \u2014\u2014\u00a0Solutions de test de circuits imprim\u00e9s professionnelles, efficaces et fiables<\/strong><\/h3>\n

                      Quatri\u00e8mement, r\u00e9sum\u00e9 de nos principaux avantages<\/strong><\/h4>\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n
                      Dimensions<\/strong><\/th>\nNous pouvons le faire<\/strong><\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n
                      Efficacit\u00e9<\/strong><\/td>\nTemps de test d'une seule carte \u2264 5 secondes, prend en charge plus de 2\u00a0000 points de test\/carte<\/td>\n<\/tr>\n
                      Pr\u00e9cision<\/strong><\/td>\nTaux de faux positifs < 0,2%, compatible avec un r\u00e9glage de tol\u00e9rance de \u00b120%<\/td>\n<\/tr>\n
                      Co\u00fbt<\/strong><\/td>\n\u00c9conomies sur les co\u00fbts de montage du 30%, r\u00e9duction des reprises manuelles du 92% (projet d'\u00e9quipement m\u00e9dical de r\u00e9f\u00e9rence)<\/td>\n<\/tr>\n
                      Couverture technologique<\/strong><\/td>\nTest de sonde volante + test de lit de clous + d\u00e9tection de joint de soudure 3D, adapt\u00e9 aux emballages haute densit\u00e9 tels que BGA\/LGA\/QFN<\/td>\n<\/tr>\n
                      Certification industrielle<\/strong><\/td>\nCertification ISO 9001\/IEC 61215, cas de coop\u00e9ration SGS\/Intertek<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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                      \n\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\"\"\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
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                      \n\t\t\t\t\t\tTEST TIC professionnel, efficace et fiable \t\t\t\t\t<\/h2>\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\t\tSolutions de test PCBA professionnelles, efficaces et fiables\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\tDevis gratuit maintenant \t\t\t\t\t<\/a>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

                      D\u00e9couvrez comment les tests en circuit (ICT TEST) garantissent la qualit\u00e9 des PCB, r\u00e9duisent les co\u00fbts et acc\u00e9l\u00e8rent la production. D\u00e9tection rapide des d\u00e9fauts, diagnostic fiable des d\u00e9fauts et tests de pr\u00e9cision pour la fabrication \u00e0 haut volume<\/p>","protected":false},"author":2,"featured_media":2527,"parent":0,"menu_order":0,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","template":"","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"class_list":["post-2377","page","type-page","status-publish","has-post-thumbnail","hentry"],"acf":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/2377","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/pages"}],"about":[{"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/types\/page"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/users\/2"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=2377"}],"version-history":[{"count":0,"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/2377\/revisions"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/media\/2527"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=2377"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}