{"id":2377,"date":"2025-02-23T15:30:28","date_gmt":"2025-02-23T07:30:28","guid":{"rendered":"https:\/\/sevenpcba.com\/?page_id=2377"},"modified":"2025-05-27T13:02:48","modified_gmt":"2025-05-27T05:02:48","slug":"ict-test","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/sevenpcba.com\/es\/ict-test\/","title":{"rendered":"PRUEBA DE TIC"},"content":{"rendered":"
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\u00bfQu\u00e9 es ICT TEST (prueba en circuito) y por qu\u00e9 ICT TEST?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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PRUEBA DE TIC<\/strong> Es la abreviatura de "In-Circuit Tester" (Probador en Circuito). Es un instrumento de prueba que utiliza tecnolog\u00eda inform\u00e1tica para comprobar si los componentes y par\u00e1metros de la placa de circuito son correctos, as\u00ed como si el montaje del circuito es correcto en la l\u00ednea de producci\u00f3n de productos electr\u00f3nicos. Dado que no simula la funci\u00f3n ni el rendimiento del circuito de prueba, tambi\u00e9n se denomina prueba est\u00e1tica de la placa de circuito.<\/p>\n

Es un instrumento de prueba que utiliza tecnolog\u00eda inform\u00e1tica para comprobar la correcci\u00f3n de los componentes y par\u00e1metros de la placa de circuito impreso, as\u00ed como la precisi\u00f3n del montaje del circuito en la l\u00ednea de producci\u00f3n de productos electr\u00f3nicos. Dado que no simula la funci\u00f3n ni el rendimiento del circuito de prueba, tambi\u00e9n se denomina prueba est\u00e1tica de la placa de circuito impreso.<\/p>\n

PRUEBA DE TIC<\/strong> El comprobador en circuito mide todos los componentes de la placa de circuito, incluyendo resistencias, condensadores, inductores, diodos, transistores, FET, SCR, LED y circuitos integrados, entre otros, para detectar diversos defectos en productos de placa de circuito, como cortocircuitos, circuitos abiertos, piezas faltantes, piezas incorrectas, piezas defectuosas o ensamblajes deficientes, e indica claramente la ubicaci\u00f3n de los defectos para ayudar a los usuarios a garantizar la calidad del producto y optimizar la inspecci\u00f3n y reparaci\u00f3n de productos defectuosos. Adem\u00e1s, es el primero en utilizar rel\u00e9s de l\u00e1minas (REL\u00c9 DE L\u00c1MINAS) que pueden conmutarse cientos de millones de veces. Es el comprobador en circuito con la mayor cobertura de prueba, la prueba m\u00e1s estable, el uso m\u00e1s c\u00f3modo y los datos m\u00e1s completos.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t

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\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\tCotizaci\u00f3n gratuita ahora<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/a>\n\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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\u00bfC\u00f3mo se hacen las pruebas TIC y c\u00f3mo funcionan?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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\n\t\t\t\t\t\t\u00bfC\u00f3mo se hacen las pruebas TIC y c\u00f3mo se trabaja?\t\t\t\t\t<\/h2>\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\tDetectar circuitos abiertos, cortocircuitos y condiciones de soldadura de las piezas.\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\tCotizaci\u00f3n gratuita ahora\t\t\t\t\t<\/a>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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  1. Tecnolog\u00eda de aislamiento (protecci\u00f3n)<\/strong>\u00a0Elimina la interferencia del circuito, mide con precisi\u00f3n los par\u00e1metros de los componentes y mejora la precisi\u00f3n de la detecci\u00f3n de defectos de PCBA.<\/p><\/li>

  2. M\u00e9todo de medici\u00f3n de corriente\/voltaje constante<\/strong>\u00a0Determine r\u00e1pidamente el valor de resistencia, adecuado para pruebas en l\u00ednea de gran resistencia, para garantizar la calidad de la soldadura.<\/p><\/li>

  3. Prueba de frecuencia constante de CA del condensador<\/strong>\u00a0Mida la impedancia del capacitor a trav\u00e9s de la fuente de voltaje de CA e identifique con precisi\u00f3n la capacitancia anormal del capacitor (como fugas, soldadura en fr\u00edo).<\/p><\/li>

  4. M\u00e9todo de an\u00e1lisis de impedancia del inductor<\/strong>\u00a0Utilice la se\u00f1al de CA para medir la reactancia del inductor, cubriendo el diagn\u00f3stico de fallas del inductor de alta frecuencia\/baja frecuencia.<\/p><\/li>

  5. Prueba de ca\u00edda de tensi\u00f3n directa del diodo<\/strong>\u00a0Detecta el voltaje directo de los diodos de silicio\/germanio (0,3 V\/0,7 V) para verificar si hay una ruptura inversa o un circuito abierto.<\/p><\/li>

  6. Prueba de l\u00f3gica vectorial<\/strong>\u00a0Comparar se\u00f1ales de entrada y salida para verificar funciones de circuitos integrados digitales (como puertas l\u00f3gicas, microprocesadores).<\/p><\/li>

  7. Prueba de escaneo r\u00e1pido sin vectores<\/strong>\u00a0No se requieren procedimientos complejos, detecta r\u00e1pidamente circuitos abiertos y cortocircuitos en los pines de los componentes y se adapta a circuitos SMT de alta densidad.<\/p><\/li>

  8. Tecnolog\u00eda de escaneo de l\u00edmites (JTAG)<\/strong>\u00a0Detecta la interconexi\u00f3n interna del chip a trav\u00e9s de la cadena de prueba en serie y respalda la localizaci\u00f3n de fallas en dispositivos empaquetados como BGA.<\/p><\/li><\/ol>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t

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    \u00bfCu\u00e1l es la funci\u00f3n del TEST TIC?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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    Lo siguiente es para PRUEBA DE TIC<\/strong> 10 funciones principales funciones<\/strong><\/p>\n

    1.\u00a0<\/strong>Detecci\u00f3n de circuitos abiertos y cortocircuitos<\/h3>\n

    Escenarios de aplicaci\u00f3n<\/strong>:<\/p>\n

      \n
    • Electr\u00f3nica automotriz<\/strong>:Detecci\u00f3n de defectos de soldadura en placas de circuito ECU (Unidad de Control Electr\u00f3nico) para evitar p\u00e9rdida de control del veh\u00edculo debido a cortocircuitos.<\/li>\n
    • Equipos de comunicaci\u00f3n<\/strong>:Soluci\u00f3n de fallas de cortocircuito en placas base de enrutadores y conmutadores para garantizar la estabilidad de la transmisi\u00f3n de se\u00f1ales.<\/li>\n<\/ul>\n

      2.\u00a0<\/strong>Medici\u00f3n de par\u00e1metros de componentes<\/h3>\n

      Escenarios de aplicaci\u00f3n<\/strong>:<\/p>\n

        \n
      • Equipo m\u00e9dico<\/strong>:Calibraci\u00f3n de par\u00e1metros de resistencia y capacitancia de instrumentos de precisi\u00f3n como monitores, ventiladores, etc., para garantizar la precisi\u00f3n del equipo.<\/li>\n
      • Control industrial<\/strong>:Verificaci\u00f3n del rendimiento de inductores y rel\u00e9s en PLC (Controlador L\u00f3gico Programable) para garantizar el funcionamiento estable de las l\u00edneas de producci\u00f3n.<\/li>\n
      • Aeroespacial<\/strong>:Inspecci\u00f3n completa de los par\u00e1metros de los componentes de las placas de circuitos de alta confiabilidad para cumplir con los requisitos de rendimiento en entornos extremos.<\/li>\n<\/ul>\n

        3.\u00a0<\/strong>Prueba de diodos y transistores<\/h3>\n

        Escenarios de aplicaci\u00f3n<\/strong>:<\/p>\n

          \n
        • M\u00f3dulo de potencia<\/strong>:Prueba del rendimiento del diodo rectificador y del tubo de conmutaci\u00f3n para evitar sobrecalentamiento o fallas en la fuente de alimentaci\u00f3n.<\/li>\n
        • Electr\u00f3nica de consumo<\/strong>:Prueba de ruptura inversa de diodos en cargadores de tel\u00e9fonos celulares y circuitos de control de LED para mejorar la vida \u00fatil del producto.<\/li>\n
        • Equipos industriales<\/strong>:Verificaci\u00f3n de las caracter\u00edsticas de amplificaci\u00f3n de transistores para placas de controladores de motores e inversores para garantizar una alta potencia de salida.<\/li>\n<\/ul>\n

          4.\u00a0<\/strong>Tecnolog\u00eda de aislamiento (protecci\u00f3n)<\/h3>\n

          Escenarios de aplicaci\u00f3n<\/strong>:<\/p>\n

            \n
          • Instrumentaci\u00f3n de alta precisi\u00f3n<\/strong>:como la medici\u00f3n precisa de peque\u00f1as resistencias y capacitancias en circuitos de sensores, eliminando la interferencia de bucle par\u00e1sito.<\/li>\n
          • Aeroespacial<\/strong>:Pruebas de aislamiento de circuitos de control de precisi\u00f3n para garantizar par\u00e1metros precisos de componentes clave en circuitos complejos.<\/li>\n
          • Equipo m\u00e9dico<\/strong>:Prueba de circuitos de alta sensibilidad de equipos de electrocardiograma (ECG) para reducir errores de medici\u00f3n.<\/li>\n<\/ul>\n

            5.\u00a0<\/strong>Localizaci\u00f3n automatizada de fallas<\/h3>\n

            Escenarios de aplicaci\u00f3n<\/strong>:<\/p>\n

              \n
            • Electr\u00f3nica automotriz<\/strong>: Localice r\u00e1pidamente componentes defectuosos de los m\u00f3dulos de navegaci\u00f3n y red del veh\u00edculo para acortar el tiempo de reparaci\u00f3n.<\/li>\n
            • Estaciones base de comunicaci\u00f3n<\/strong>:posicionamiento preciso de los puntos de falla de la placa base de la estaci\u00f3n base para garantizar la continuidad de la red de comunicaciones.<\/li>\n
            • Automatizaci\u00f3n industrial<\/strong>:reparaci\u00f3n r\u00e1pida de placas de control de robots defectuosas, reduciendo las p\u00e9rdidas por tiempo de inactividad de la l\u00ednea de producci\u00f3n.<\/li>\n<\/ul>\n

              6.\u00a0<\/strong>Pruebas de lotes eficientes<\/h3>\n

              Escenarios de aplicaci\u00f3n<\/strong>:<\/p>\n

                \n
              • Electr\u00f3nica de consumo<\/strong>:prueba r\u00e1pida de placas base de tel\u00e9fonos celulares y computadoras en la l\u00ednea de producci\u00f3n, a la altura de la demanda de un alto rendimiento SMT (por ejemplo, miles de piezas por hora).<\/li>\n
              • dispositivos IoT<\/strong>:Control de calidad de lotes para sensores dom\u00e9sticos inteligentes y dispositivos port\u00e1tiles para mejorar la eficiencia de entrega al mercado.<\/li>\n
              • Control industrial<\/strong>:Pruebas por lotes de PLC y placas base de control industrial para garantizar la consistencia de los equipos industriales.<\/li>\n<\/ul>\n

                7.\u00a0<\/strong>An\u00e1lisis especial de condensadores e inductores<\/h3>\n

                Escenarios de aplicaci\u00f3n<\/strong>:<\/p>\n

                  \n
                • Equipo de comunicaci\u00f3n<\/strong>:Prueba de impedancia de condensadores de filtro e inductores de alta frecuencia para garantizar la calidad de la se\u00f1al de las estaciones base 5G.<\/li>\n
                • Electr\u00f3nica de consumo<\/strong>:Verificaci\u00f3n del rendimiento de los condensadores de sintonizaci\u00f3n de antena de telefon\u00eda m\u00f3vil y de los inductores de filtrado de la fuente de alimentaci\u00f3n para optimizar la se\u00f1al y el alcance.<\/li>\n
                • Electr\u00f3nica automotriz<\/strong>:Prueba de estabilidad de inductancia para sistemas de audio y ADAS en autom\u00f3viles para evitar interferencias electromagn\u00e9ticas.<\/li>\n<\/ul>\n

                  8.\u00a0<\/strong>Prueba de circuitos integrados<\/h3>\n

                  Escenarios de aplicaci\u00f3n<\/strong>:<\/p>\n

                    \n
                  • Electr\u00f3nica automotriz<\/strong>:pruebas de escaneo de l\u00edmites de chips empaquetados en BGA (por ejemplo, MCU, sensores) para garantizar la confiabilidad de los sistemas de conducci\u00f3n aut\u00f3noma.<\/li>\n
                  • Aeroespacial<\/strong>:Pruebas de interconexi\u00f3n interna de circuitos integrados complejos (por ejemplo, FPGA, DSP) para cumplir con requisitos de alta confiabilidad.<\/li>\n<\/ul>\n

                    9.\u00a0<\/strong>Estad\u00edsticas y trazabilidad<\/h3>\n

                    Escenarios de aplicaci\u00f3n<\/strong>:<\/p>\n

                      \n
                    • Dispositivos m\u00e9dicos<\/strong>:Datos estad\u00edsticos sobre defectos de instrumentos m\u00e9dicos para optimizar los procesos de producci\u00f3n para el cumplimiento de la FDA\/CE.<\/li>\n
                    • Fabricaci\u00f3n industrial<\/strong>: Mejore los par\u00e1metros del montador SMT y la tasa de rendimiento a trav\u00e9s de PRUEBA DE TIC<\/strong> informes.<\/li>\n<\/ul>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
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                      \n\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\t

                      \u00bfCu\u00e1les son las ventajas y desventajas de los TEST TIC?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
                      \n\t\t\t\t\t
                      \n\t\t
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                      \n\t\t\t\t\t\t\t\t\t

                      La siguiente es una tabla comparativa de los tres principales m\u00e9todos de prueba.\u00a0Pruebas de TIC, FCT y AOI<\/strong>\u00a0Basado en informaci\u00f3n de la base de conocimientos, destacando las ventajas, desventajas y escenarios de aplicaci\u00f3n.<\/p>\n

                      Prueba de TIC (Prueba en circuito)<\/strong><\/h3>\n\n\n\n\n\n\n\n\n
                      Ventajas<\/strong><\/th>\nDesventajas<\/strong><\/th>\nEscenarios t\u00edpicos de aplicaci\u00f3n<\/strong><\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n
                      \u2705\u00a0Velocidad de prueba r\u00e1pida<\/strong>\u00a0(unos segundos\/tablero)<\/td>\n\u274c\u00a0Alto costo del equipo<\/strong>\u00a0(cientos de miles de d\u00f3lares en accesorios)<\/td>\nElectr\u00f3nica automotriz, equipos de comunicaci\u00f3n, producci\u00f3n en masa de electr\u00f3nica de consumo<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Alta precisi\u00f3n<\/strong>\u00a0(prueba directa de propiedades el\u00e9ctricas)<\/td>\n\u274c\u00a0Es necesario dise\u00f1ar puntos de prueba<\/strong>\u00a0(tasa de cableado m\u00e1s baja)<\/td>\nTableros de control industrial, circuitos de alta confiabilidad aeroespacial<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Soporte para componentes complejos<\/strong>\u00a0(por ejemplo, BGA, FPGA)<\/td>\n\u274c\u00a0Altos requisitos de mantenimiento<\/strong>\u00a0(las sondas deben reemplazarse si se desgastan)<\/td>\nL\u00edneas PCBA que necesitan localizar fallas r\u00e1pidamente<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0No es necesario realizar pruebas de encendido<\/strong>\u00a0(reduce el riesgo de cortocircuito)<\/td>\n\u274c\u00a0No se puede probar la funcionalidad del software<\/strong><\/td>\nPlacas de circuitos de componentes de alta densidad<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n

                      FCT (Prueba funcional. Prueba funcional)<\/strong><\/h3>\n\n\n\n\n\n\n\n\n
                      Ventajas<\/strong><\/th>\nDesventajas<\/strong><\/th>\nEscenarios t\u00edpicos de aplicaci\u00f3n<\/strong><\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n
                      \u2705\u00a0Verificar exhaustivamente la funcionalidad<\/strong>\u00a0(Colaboraci\u00f3n de software y hardware)<\/td>\n\u274c\u00a0Entornos de prueba complicados<\/strong>\u00a0(Es necesario simular condiciones laborales reales)<\/td>\nPruebas de tel\u00e9fonos inteligentes, dispositivos m\u00e9dicos y electrodom\u00e9sticos terminados<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Pruebas din\u00e1micas<\/strong>\u00a0(condiciones reales de trabajo)<\/td>\n\u274c\u00a0Mucho tiempo de consumo<\/strong>\u00a0(nivel de minutos\/tablero)<\/td>\nEstaciones base de comunicaci\u00f3n, pruebas de integraci\u00f3n de sistemas ECU de automoci\u00f3n<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Cobertura de las zonas ciegas de las TIC<\/strong>\u00a0(por ejemplo, rendimiento de los componentes, defectos del software)<\/td>\n\u274c\u00a0Baja inversi\u00f3n en dispositivos, pero alto coste de desarrollo de programas<\/strong><\/td>\nDispositivos complejos que necesitan validar interacciones a nivel de sistema<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Se puede adaptar a producciones de peque\u00f1o volumen.<\/strong><\/td>\n\u274c\u00a0No se pueden localizar puntos de falla espec\u00edficos<\/strong><\/td>\nFase de desarrollo y validaci\u00f3n de nuevos productos<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n

                      AOI (Inspecci\u00f3n \u00f3ptica automatizada)<\/strong><\/h3>\n\n\n\n\n\n\n\n\n
                      Ventajas<\/strong><\/th>\nDesventajas<\/strong><\/th>\nEscenarios t\u00edpicos de aplicaci\u00f3n<\/strong><\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n
                      \u2705\u00a0Inspecci\u00f3n sin contacto<\/strong>\u00a0(sin desgaste mec\u00e1nico)<\/td>\n\u274c\u00a0No se pueden detectar propiedades el\u00e9ctricas<\/strong><\/td>\nInspecci\u00f3n de la apariencia de las juntas de soldadura de la l\u00ednea SMT, monitoreo del proceso de PCB<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Inspecci\u00f3n de apariencia de alta precisi\u00f3n<\/strong>\u00a0(por ejemplo, monumental, puente de soldadura)<\/td>\n\u274c\u00a0Depende de las configuraciones algor\u00edtmicas y de la fuente de luz.<\/strong><\/td>\nDetecci\u00f3n de defectos de apariencia en electr\u00f3nica de consumo y electr\u00f3nica automotriz<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705 \u2705\u00a0Mantenimiento de bajo costo<\/strong>\u00a0(no es necesario reemplazar la sonda)<\/td>\n\u274c\u00a0No se pueden detectar fallos internos<\/strong><\/td>\nInterceptaci\u00f3n de defectos en tiempo real en l\u00edneas de producci\u00f3n de alta velocidad<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Despliegue r\u00e1pido<\/strong>\u00a0(se adapta a la conmutaci\u00f3n multimodelo)<\/td>\n\u274c\u00a0Influenciado por el acabado de la superficie<\/strong>\u00a0(por ejemplo, enmascaramiento de componentes)<\/td>\nDesplazamiento de componentes SMT, detecci\u00f3n deficiente de impresi\u00f3n de pasta de soldadura<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n

                      Resumen comparativo y sugerencias complementarias<\/strong><\/h3>\n\n\n\n\n\n\n\n\n
                      Dimensiones de comparaci\u00f3n<\/strong><\/th>\nPRUEBA DE TIC\u00a0<\/strong><\/th>\nFCT<\/strong><\/th>\n\u00c1rea de informaci\u00f3n geogr\u00e1fica<\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n
                      Tipos de pruebas<\/strong><\/td>\nRendimiento el\u00e9ctrico<\/td>\nFuncionalidad<\/td>\nApariencia<\/td>\n<\/tr>\n
                      Velocidad<\/strong><\/td>\nR\u00e1pido (Segundos)<\/td>\nLento (Minutos)<\/td>\nR\u00e1pido (en tiempo real)<\/td>\n<\/tr>\n
                      Costo<\/strong><\/td>\nAlto (Equipo + Luminaria)<\/td>\nMedio (depende del entorno de prueba)<\/td>\nMedio (Equipo + Algoritmos)<\/td>\n<\/tr>\n
                      Soluciones complementarias<\/strong><\/td>\n+AOI (Inspecci\u00f3n \u00f3ptica y el\u00e9ctrica completa)<\/td>\n+TIC (Localizar Fallas Espec\u00edficas)<\/td>\n+TIC\/FCT (Abarcando lo El\u00e9ctrico y lo Funcional)<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
                      \n\t\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\t

                      \u00bfPor qu\u00e9 realizar la prueba de TIC?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
                      \n\t\t\t\t\t
                      \n\t\t
                      \n\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\t\t\t\t\t

                      \u00bfPor qu\u00e9 elegirnos para pruebas de TIC? \u2014\u2014Soluciones de pruebas de PCB profesionales, eficientes y confiables.<\/strong><\/h3>\n

                      En cuarto lugar, resumen de nuestras principales ventajas<\/strong><\/h4>\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n
                      Dimensiones<\/strong><\/th>\nPodemos hacerlo<\/strong><\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n
                      Eficiencia<\/strong><\/td>\nTiempo de prueba de placa \u00fanica \u2264 5 segundos, admite m\u00e1s de 2000 puntos de prueba\/placa<\/td>\n<\/tr>\n
                      Exactitud<\/strong><\/td>\nTasa de falsos positivos < 0,2%, compatible con configuraci\u00f3n de tolerancia de \u00b120%<\/td>\n<\/tr>\n
                      Costo<\/strong><\/td>\nAhorro en costos de fijaci\u00f3n de 30%, reducci\u00f3n de retrabajo manual de 92% (proyecto de equipo m\u00e9dico de referencia)<\/td>\n<\/tr>\n
                      Cobertura tecnol\u00f3gica<\/strong><\/td>\nPrueba de sonda voladora + prueba de lecho de clavos + detecci\u00f3n de juntas de soldadura 3D, adecuada para empaques de alta densidad como BGA\/LGA\/QFN<\/td>\n<\/tr>\n
                      Certificaci\u00f3n industrial<\/strong><\/td>\nCertificaci\u00f3n ISO 9001\/IEC 61215, caso de cooperaci\u00f3n SGS\/Intertek<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
                      \n\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\"\"\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t

                      \n\t\t\t\t\t\tPruebas TIC profesionales, eficientes y confiables \t\t\t\t\t<\/h2>\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\t\tSoluciones de pruebas de PCBA profesionales, eficientes y confiables\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\tCotizaci\u00f3n gratuita ahora \t\t\t\t\t<\/a>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

                      Descubra c\u00f3mo las pruebas en circuito (ICT TEST) garantizan la calidad de las PCB, reducen costos y aceleran la producci\u00f3n. Detecci\u00f3n r\u00e1pida de defectos, diagn\u00f3stico confiable de fallas y pruebas precisas para la fabricaci\u00f3n de alto volumen.<\/p>","protected":false},"author":2,"featured_media":2527,"parent":0,"menu_order":0,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","template":"","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"class_list":["post-2377","page","type-page","status-publish","has-post-thumbnail","hentry"],"acf":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/2377","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/pages"}],"about":[{"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/types\/page"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/users\/2"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=2377"}],"version-history":[{"count":0,"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/2377\/revisions"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/media\/2527"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=2377"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}