{"id":2377,"date":"2025-02-23T15:30:28","date_gmt":"2025-02-23T07:30:28","guid":{"rendered":"https:\/\/sevenpcba.com\/?page_id=2377"},"modified":"2025-05-27T13:02:48","modified_gmt":"2025-05-27T05:02:48","slug":"ict-test","status":"publish","type":"page","link":"https:\/\/sevenpcba.com\/de\/ict-test\/","title":{"rendered":"IKT-TEST"},"content":{"rendered":"
\n\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t
\n\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t

Was ist ein ICT-Test (In-Circuit-Test) und warum ein ICT-Test?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
\n\t\t\t\t\t
\n\t\t
\n\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t

IKT-TEST<\/strong> ist die Abk\u00fcrzung f\u00fcr In-Circuit Tester. Es handelt sich um ein Testger\u00e4t, das mithilfe von Computertechnologie pr\u00fcft, ob die Komponenten und Parameter auf der Leiterplatte korrekt sind und ob die Schaltungsanordnung in der Serienproduktion elektronischer Produkte korrekt ist. Da die Funktion und Leistung der Testschaltung nicht simuliert wird, wird dies auch als statischer Test der Leiterplatte bezeichnet.<\/p>\n

Es handelt sich um ein Testger\u00e4t, das mithilfe von Computertechnologie pr\u00fcft, ob die Komponenten und Parameter auf der Leiterplatte korrekt sind und ob die Schaltungsanordnung in der Produktionslinie f\u00fcr massenproduzierte elektronische Produkte korrekt ist. Da es die Funktion und Leistung der Testschaltung nicht simuliert, wird es auch als statischer Test der Leiterplatte bezeichnet.<\/p>\n

IKT-TEST<\/strong> (IN CIRCUIT TESTER) misst alle Bauteile auf der Leiterplatte, einschlie\u00dflich Widerst\u00e4nde, Kondensatoren, Induktivit\u00e4ten, Dioden, Transistoren, FETs, Thyristoren, LEDs und ICs usw., um verschiedene Defekte an Leiterplattenprodukten zu erkennen, wie z. B. Kurzschl\u00fcsse, Unterbrechungen, fehlende Teile, falsche Teile, defekte Teile oder mangelhafte Montage usw. Die Fehlerstelle wird deutlich angezeigt, um die Produktqualit\u00e4t zu gew\u00e4hrleisten und die Inspektion und Reparatur defekter Produkte effizienter zu gestalten. Es ist au\u00dferdem das erste Ger\u00e4t, das Reed-Relais (REED RELAY) verwendet, die Hunderte Millionen Mal geschaltet werden k\u00f6nnen. Es ist der In-Circuit-Tester mit der h\u00f6chsten Testabdeckung, dem stabilsten Test, der bequemsten Bedienung und den umfassendsten Daten.<\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t

\n\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\"\"\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\tKostenloses Angebot jetzt<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/span>\n\t\t\t\t\t<\/a>\n\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
\n\t\t\t\t\t
\n\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t

Wie funktioniert ein IKT-Test und wie funktioniert er?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
\n\t\t\t\t\t
\n\t\t
\n\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\"\"\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t

\n\t\t\t\t\t\tWie l\u00e4uft ein IKT-Test ab und wie funktioniert er?\t\t\t\t\t<\/h2>\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\tErkennen von Unterbrechungen, Kurzschl\u00fcssen und Schwei\u00dfzust\u00e4nden von Teilen\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\tKostenloses Angebot jetzt\t\t\t\t\t<\/a>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
\n\t\t\t\t
\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t

  1. Isolationstechnologie (Schutztechnologie)<\/strong>\u00a0Beseitigen Sie Schaltungsst\u00f6rungen, messen Sie Komponentenparameter genau und verbessern Sie die Genauigkeit der PCBA-Defekterkennung.<\/p><\/li>

  2. Konstante Strom-\/Spannungsmessverfahren<\/strong>\u00a0Bestimmen Sie schnell den Widerstandswert, der f\u00fcr Online-Tests mit gro\u00dfem Widerstand geeignet ist, um die Schwei\u00dfqualit\u00e4t sicherzustellen.<\/p><\/li>

  3. Kondensator-AC-Konstantfrequenztest<\/strong>\u00a0Messen Sie die Kondensatorimpedanz \u00fcber die Wechselspannungsquelle und identifizieren Sie genau abnormale Kondensatorkapazit\u00e4ten (z. B. Leckagen oder Kaltl\u00f6ten).<\/p><\/li>

  4. Methode zur Analyse der Induktorimpedanz<\/strong>\u00a0Verwenden Sie ein Wechselstromsignal, um die Reaktanz der Induktivit\u00e4t zu messen und so die Diagnose von Hochfrequenz-\/Niederfrequenz-Induktivit\u00e4tsfehlern durchzuf\u00fchren.<\/p><\/li>

  5. Dioden-Durchlassspannungsabfalltest<\/strong>\u00a0Ermitteln Sie die Durchlassspannung von Silizium-\/Germaniumdioden (0,3 V\/0,7 V), um einen Durchbruch in Sperrrichtung oder einen offenen Stromkreis festzustellen.<\/p><\/li>

  6. Vektorlogiktest<\/strong>\u00a0Vergleichen Sie Eingangs- und Ausgangssignale, um digitale IC-Funktionen (wie Logikgatter, Mikroprozessoren) zu \u00fcberpr\u00fcfen.<\/p><\/li>

  7. Nicht-Vektor-Schnellscantest<\/strong>\u00a0Es sind keine komplexen Verfahren erforderlich, offene Pins und Kurzschl\u00fcsse von Komponenten lassen sich schnell erkennen und an SMT-Schaltungen mit hoher Dichte anpassen.<\/p><\/li>

  8. Boundary Scan (JTAG)-Technologie<\/strong>\u00a0Erkennen Sie die interne Verbindung des Chips \u00fcber die serielle Testkette und unterst\u00fctzen Sie die Fehlerortung von verpackten Ger\u00e4ten wie BGA.<\/p><\/li><\/ol>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t

    \n\t\t\t\t\t
    \n\t\t\t\t
    \n\t\t\t\t\t

    Was ist die Funktion des IKT-TESTS?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
    \n\t\t\t\t\t
    \n\t\t
    \n\t\t\t\t
    \n\t\t\t\t\t\t\t\t\t

    Das Folgende ist f\u00fcr IKT-TEST<\/strong> 10 Hauptfunktionen Funktionen<\/strong><\/p>\n

    1.\u00a0<\/strong>Unterbrechungs- und Kurzschlusserkennung<\/h3>\n

    Anwendungsszenarien<\/strong>:<\/p>\n

      \n
    • Automobilelektronik<\/strong>: Erkennen von Schwei\u00dffehlern auf ECU-Platinen (Electronic Control Unit), um einen Kontrollverlust \u00fcber das Fahrzeug durch Kurzschl\u00fcsse zu vermeiden.<\/li>\n
    • Kommunikationsausr\u00fcstung<\/strong>: Beheben von Kurzschlussfehlern in Router- und Switch-Motherboards, um die Stabilit\u00e4t der Signal\u00fcbertragung sicherzustellen.<\/li>\n<\/ul>\n

      2.\u00a0<\/strong>Messung von Komponentenparametern<\/h3>\n

      Anwendungsszenarien<\/strong>:<\/p>\n

        \n
      • Medizinische Ger\u00e4te<\/strong>: Kalibrierung der Widerstands- und Kapazit\u00e4tsparameter von Pr\u00e4zisionsinstrumenten wie Monitoren, Beatmungsger\u00e4ten usw., um die Genauigkeit der Ger\u00e4te sicherzustellen.<\/li>\n
      • Industrielle Steuerung<\/strong>: \u00dcberpr\u00fcfung der Leistung von Induktoren und Relais in der SPS (speicherprogrammierbare Steuerung), um einen stabilen Betrieb der Produktionslinien zu gew\u00e4hrleisten.<\/li>\n
      • Luft- und Raumfahrt<\/strong>: Vollst\u00e4ndige \u00dcberpr\u00fcfung der Komponentenparameter von Leiterplatten mit hoher Zuverl\u00e4ssigkeit, um die Leistungsanforderungen in extremen Umgebungen zu erf\u00fcllen.<\/li>\n<\/ul>\n

        3.\u00a0<\/strong>Dioden-\/Transistorpr\u00fcfung<\/h3>\n

        Anwendungsszenarien<\/strong>:<\/p>\n

          \n
        • Leistungsmodul<\/strong>: Testen der Leistung von Gleichrichterdioden und Schaltr\u00f6hren, um eine \u00dcberhitzung oder einen Ausfall der Stromversorgung zu vermeiden.<\/li>\n
        • Unterhaltungselektronik<\/strong>: R\u00fcckw\u00e4rtsdurchbruchtests von Dioden in Handy-Ladeger\u00e4ten und LED-Antriebsschaltungen zur Verl\u00e4ngerung der Produktlebensdauer.<\/li>\n
        • Industrielle Ausr\u00fcstung<\/strong>: \u00dcberpr\u00fcfung der Transistorverst\u00e4rkungseigenschaften f\u00fcr Wechselrichter- und Motortreiberplatinen, um eine hohe Leistungsabgabe sicherzustellen.<\/li>\n<\/ul>\n

          4.\u00a0<\/strong>Isolations-(Schutz-)Technologie<\/h3>\n

          Anwendungsszenarien<\/strong>:<\/p>\n

            \n
          • Hochpr\u00e4zise Instrumente<\/strong>: wie etwa die genaue Messung winziger Widerst\u00e4nde und Kapazit\u00e4ten in Sensorschaltungen, wodurch parasit\u00e4re Schleifenst\u00f6rungen eliminiert werden.<\/li>\n
          • Luft- und Raumfahrt<\/strong>: Isolationstests von Pr\u00e4zisionssteuerschaltungen, um genaue Parameter wichtiger Komponenten in komplexen Schaltungen sicherzustellen.<\/li>\n
          • Medizinische Ger\u00e4te<\/strong>: Hochempfindlicher Schaltungstest von Elektrokardiogramm-Ger\u00e4ten (EKG) zur Reduzierung von Messfehlern.<\/li>\n<\/ul>\n

            5.\u00a0<\/strong>Automatisierte Fehlerortung<\/h3>\n

            Anwendungsszenarien<\/strong>:<\/p>\n

              \n
            • Automobilelektronik<\/strong>: Schnelles Lokalisieren fehlerhafter Komponenten der Fahrzeugnavigation und der Fahrzeugnetzwerkmodule, um die Reparaturzeit zu verk\u00fcrzen.<\/li>\n
            • Kommunikationsbasisstationen<\/strong>: genaue Positionierung von Fehlerpunkten der Hauptplatine der Basisstation, um die Kontinuit\u00e4t des Kommunikationsnetzwerks sicherzustellen.<\/li>\n
            • Industrielle Automatisierung<\/strong>: Schnelle Reparatur defekter Robotersteuerplatinen, wodurch Ausfallzeiten der Produktionslinie reduziert werden.<\/li>\n<\/ul>\n

              6.\u00a0<\/strong>Effiziente Batch-Pr\u00fcfung<\/h3>\n

              Anwendungsszenarien<\/strong>:<\/p>\n

                \n
              • Unterhaltungselektronik<\/strong>: Schnelles Testen von Mobiltelefon- und Computer-Motherboards in der Produktionslinie, entsprechend der Nachfrage nach hohem SMT-Durchsatz (z. B. Tausende von St\u00fcck pro Stunde).<\/li>\n
              • IoT-Ger\u00e4te<\/strong>: Batch-Qualit\u00e4tskontrolle f\u00fcr Smart-Home-Sensoren und tragbare Ger\u00e4te zur Verbesserung der Marktliefereffizienz.<\/li>\n
              • Industrielle Steuerung<\/strong>: Stapeltests von SPS- und Industriesteuerungs-Motherboards, um die Konsistenz der Industrieausr\u00fcstung sicherzustellen.<\/li>\n<\/ul>\n

                7.\u00a0<\/strong>Spezielle Analyse von Kondensatoren und Induktoren<\/h3>\n

                Anwendungsszenarien<\/strong>:<\/p>\n

                  \n
                • Kommunikationsausr\u00fcstung<\/strong>: Impedanzpr\u00fcfung von Filterkondensatoren und Hochfrequenzinduktivit\u00e4ten zur Sicherstellung der Signalqualit\u00e4t von 5G-Basisstationen.<\/li>\n
                • Unterhaltungselektronik<\/strong>: Leistungs\u00fcberpr\u00fcfung von Abstimmkondensatoren f\u00fcr Mobiltelefonantennen und Filterinduktoren f\u00fcr die Stromversorgung zur Optimierung von Signal und Reichweite.<\/li>\n
                • Automobilelektronik<\/strong>: Pr\u00fcfung der Induktivit\u00e4tsstabilit\u00e4t f\u00fcr Audio- und ADAS-Systeme im Auto, um elektromagnetische St\u00f6rungen zu vermeiden.<\/li>\n<\/ul>\n

                  8.\u00a0<\/strong>Pr\u00fcfung integrierter Schaltkreise<\/h3>\n

                  Anwendungsszenarien<\/strong>:<\/p>\n

                    \n
                  • Automobilelektronik<\/strong>: Boundary-Scan-Tests von BGA-verpackten Chips (z. B. MCUs, Sensoren), um die Zuverl\u00e4ssigkeit autonomer Fahrsysteme sicherzustellen.<\/li>\n
                  • Luft- und Raumfahrt<\/strong>: Interne Verbindungstests komplexer ICs (z. B. FPGA, DSP), um hohe Zuverl\u00e4ssigkeitsanforderungen zu erf\u00fcllen.<\/li>\n<\/ul>\n

                    9.\u00a0<\/strong>Statistik und R\u00fcckverfolgbarkeit<\/h3>\n

                    Anwendungsszenarien<\/strong>:<\/p>\n

                      \n
                    • Medizinische Ger\u00e4te<\/strong>: Statistische Daten zu Defekten an medizinischen Instrumenten zur Optimierung der Produktionsprozesse hinsichtlich der FDA\/CE-Konformit\u00e4t.<\/li>\n
                    • Industrielle Fertigung<\/strong>: Verbessern Sie die Parameter und die Ausbeute des SMT-Best\u00fcckers durch IKT-TEST<\/strong> Berichte.<\/li>\n<\/ul>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
                      \n\t\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\t

                      Welche Vor- und Nachteile hat der IKT-TEST?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
                      \n\t\t\t\t\t
                      \n\t\t
                      \n\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\t\t\t\t\t

                      Nachfolgend finden Sie eine Vergleichstabelle der drei wichtigsten Testmethoden\u00a0IKT-TEST, FCT und AOI<\/strong>\u00a0basierend auf Wissensdatenbankinformationen, Hervorhebung der Vorteile, Nachteile und Anwendungsszenarien<\/p>\n

                      ICT-TEST (In-Circuit-Test)<\/strong><\/h3>\n\n\n\n\n\n\n\n\n
                      Vorteile<\/strong><\/th>\nNachteile<\/strong><\/th>\nTypische Anwendungsszenarien<\/strong><\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n
                      \u2705\u00a0Schnelle Testgeschwindigkeit<\/strong>\u00a0(einige Sekunden\/Brett)<\/td>\n\u274c\u00a0Hohe Ger\u00e4tekosten<\/strong>\u00a0(Hunderttausende von Dollar f\u00fcr Ausstattungen)<\/td>\nAutomobilelektronik, Kommunikationsger\u00e4te, Massenproduktion von Unterhaltungselektronik<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Hohe Genauigkeit<\/strong>\u00a0(direkte Pr\u00fcfung der elektrischen Eigenschaften)<\/td>\n\u274c\u00a0Testpunkte m\u00fcssen entworfen werden<\/strong>\u00a0(geringere Verdrahtungsrate)<\/td>\nIndustrielle Steuerplatinen, hochzuverl\u00e4ssige Schaltkreise f\u00fcr die Luft- und Raumfahrt<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Unterst\u00fctzung komplexer Komponenten<\/strong>\u00a0(zB BGA, FPGA)<\/td>\n\u274c\u00a0Hoher Wartungsaufwand<\/strong>\u00a0(Sonden m\u00fcssen ausgetauscht werden, wenn sie abgenutzt sind)<\/td>\nPCBA-Linien, die Fehler schnell lokalisieren m\u00fcssen<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Kein Einschalttest erforderlich<\/strong>\u00a0(reduziert die Kurzschlussgefahr)<\/td>\n\u274c\u00a0Die Softwarefunktionalit\u00e4t kann nicht getestet werden<\/strong><\/td>\nLeiterplatten mit hoher Komponentendichte<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n

                      FCT (Funktionstest. Funktionstest)<\/strong><\/h3>\n\n\n\n\n\n\n\n\n
                      Vorteile<\/strong><\/th>\nNachteile<\/strong><\/th>\nTypische Anwendungsszenarien<\/strong><\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n
                      \u2705\u00a0Umfassende \u00dcberpr\u00fcfung der Funktionalit\u00e4t<\/strong>\u00a0(Software- und Hardware-Zusammenarbeit)<\/td>\n\u274c\u00a0Komplizierte Testumgebungen<\/strong>\u00a0(Notwendigkeit, reale Arbeitsbedingungen zu simulieren)<\/td>\nTests von Smartphones, medizinischen Ger\u00e4ten und Fertigger\u00e4ten<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Dynamisches Testen<\/strong>\u00a0(reale Arbeitsbedingungen)<\/td>\n\u274c\u00a0Lange, zeitaufwendige<\/strong>\u00a0(Minutenebene\/Brett)<\/td>\nKommunikationsbasisstationen, Tests zur Systemintegration von Kfz-Steuerger\u00e4ten<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Abdeckung von IKT-Blindzonen<\/strong>\u00a0(z. B. Komponentenleistung, Softwarefehler)<\/td>\n\u274c\u00a0Geringe Investitionen in Ger\u00e4te, aber hohe Kosten f\u00fcr die Programmentwicklung<\/strong><\/td>\nKomplexe Ger\u00e4te, die Interaktionen auf Systemebene validieren m\u00fcssen<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Kann an die Produktion kleiner St\u00fcckzahlen angepasst werden<\/strong><\/td>\n\u274c\u00a0Konnte bestimmte Fehlerpunkte nicht lokalisieren<\/strong><\/td>\nNeue Produktentwicklungs- und Validierungsphase<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n

                      AOI (Automatisierte Optische Inspektion)<\/strong><\/h3>\n\n\n\n\n\n\n\n\n
                      Vorteile<\/strong><\/th>\nNachteile<\/strong><\/th>\nTypische Anwendungsszenarien<\/strong><\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n
                      \u2705\u00a0Ber\u00fchrungslose Inspektion<\/strong>\u00a0(kein mechanischer Verschlei\u00df)<\/td>\n\u274c\u00a0Elektrische Eigenschaften k\u00f6nnen nicht erkannt werden<\/strong><\/td>\nInspektion des Aussehens von L\u00f6tstellen in SMT-Linien, \u00dcberwachung des PCB-Prozesses<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Hochpr\u00e4zise Pr\u00fcfung des Erscheinungsbildes<\/strong>\u00a0(zB monumental, L\u00f6tbr\u00fccken)<\/td>\n\u274c\u00a0H\u00e4ngt von Algorithmus- und Lichtquellenkonfigurationen ab<\/strong><\/td>\nScreening auf optische M\u00e4ngel in Unterhaltungselektronik und Automobilelektronik<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705 \u2705\u00a0Kosteng\u00fcnstige Wartung<\/strong>\u00a0(kein Sondenwechsel erforderlich)<\/td>\n\u274c\u00a0Interne Fehler k\u00f6nnen nicht erkannt werden<\/strong><\/td>\nEchtzeit-Fehlererkennung in Hochgeschwindigkeitsproduktionslinien<\/td>\n<\/tr>\n
                      \u2705\u00a0Schnelle Bereitstellung<\/strong>\u00a0(passt sich an Multi-Modell-Umschaltung an)<\/td>\n\u274c\u00a0Beeinflusst durch die Oberfl\u00e4chenbeschaffenheit<\/strong>\u00a0(z. B. Komponentenmaskierung)<\/td>\nVersatz der SMT-Komponenten, schlechte Erkennung des L\u00f6tpastendrucks<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n

                      Vergleichszusammenfassung und erg\u00e4nzende Vorschl\u00e4ge<\/strong><\/h3>\n\n\n\n\n\n\n\n\n
                      Vergleichsma\u00dfe<\/strong><\/th>\nIKT-TEST\u00a0<\/strong><\/th>\nFCT<\/strong><\/th>\nAOI<\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n
                      Arten von Tests<\/strong><\/td>\nElektrische Leistung<\/td>\nFunktionalit\u00e4t<\/td>\nAussehen<\/td>\n<\/tr>\n
                      Geschwindigkeit<\/strong><\/td>\nSchnell (Sekunden)<\/td>\nLangsam (Minuten)<\/td>\nSchnell (Echtzeit)<\/td>\n<\/tr>\n
                      Kosten<\/strong><\/td>\nHoch (Ausr\u00fcstung + Vorrichtung)<\/td>\nMittel (abh\u00e4ngig von der Testumgebung)<\/td>\nMedium (Ausr\u00fcstung + Algorithmen)<\/td>\n<\/tr>\n
                      Erg\u00e4nzende L\u00f6sungen<\/strong><\/td>\n+AOI (Optische + Elektrische Vollinspektion)<\/td>\n+ICT (Lokalisierung spezifischer Fehler)<\/td>\n+ICT\/FCT (Umfasst elektrische und funktionale Bereiche)<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
                      \n\t\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\t

                      Warum sollten wir den IKT-Test durchf\u00fchren?<\/h2>\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
                      \n\t\t\t\t\t
                      \n\t\t
                      \n\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\t\t\t\t\t

                      Warum sollten Sie sich f\u00fcr ICT TEST bei uns entscheiden? \u2014\u2014Professionelle, effiziente und vertrauensw\u00fcrdige PCB-Testl\u00f6sungen<\/strong><\/h3>\n

                      Viertens, Zusammenfassung unserer Kernvorteile<\/strong><\/h4>\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n
                      Ma\u00dfe<\/strong><\/th>\nWir k\u00f6nnen es schaffen<\/strong><\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n
                      Effizienz<\/strong><\/td>\nEinzelplatinen-Testzeit \u2264 5 Sekunden, unterst\u00fctzt mehr als 2000 Testpunkte\/Platine<\/td>\n<\/tr>\n
                      Genauigkeit<\/strong><\/td>\nFalsch-Positiv-Rate < 0,2%, kompatibel mit einer Toleranzeinstellung von \u00b120%<\/td>\n<\/tr>\n
                      Kosten<\/strong><\/td>\nEinsparung von Vorrichtungskosten bei 30%, Reduzierung der manuellen Nacharbeit bei 92% (Referenzprojekt f\u00fcr medizinische Ger\u00e4te)<\/td>\n<\/tr>\n
                      Technologieabdeckung<\/strong><\/td>\nFlying-Probe-Test + Nagelbetttest + 3D-L\u00f6tstellenerkennung, geeignet f\u00fcr hochdichte Verpackungen wie BGA\/LGA\/QFN<\/td>\n<\/tr>\n
                      Branchenzertifizierung<\/strong><\/td>\nISO 9001\/IEC 61215-Zertifizierung, SGS\/Intertek-Kooperationsfall<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t
                      \n\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\"\"\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t

                      \n\t\t\t\t\t\tProfessioneller, effizienter und vertrauensw\u00fcrdiger ICT-TEST \t\t\t\t\t<\/h2>\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\t\tProfessionelle, effiziente und vertrauensw\u00fcrdige PCBA-Testl\u00f6sungen\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t
                      \n\t\t\t\t\t\n\t\t\t\t\t\tKostenloses Angebot jetzt \t\t\t\t\t<\/a>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

                      Entdecken Sie, wie In-Circuit-Tests (ICT-TEST) die Qualit\u00e4t von Leiterplatten sicherstellen, Kosten senken und die Produktion beschleunigen. Schnelle Defekterkennung, zuverl\u00e4ssige Fehlerdiagnose und Pr\u00e4zisionstests f\u00fcr die Massenproduktion<\/p>","protected":false},"author":2,"featured_media":2527,"parent":0,"menu_order":0,"comment_status":"closed","ping_status":"closed","template":"","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"class_list":["post-2377","page","type-page","status-publish","has-post-thumbnail","hentry"],"acf":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/2377","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/pages"}],"about":[{"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/types\/page"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/users\/2"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=2377"}],"version-history":[{"count":0,"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/pages\/2377\/revisions"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/media\/2527"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/sevenpcba.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=2377"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}